[发明专利]一种陶瓷礼品表面化质量检测系统在审
申请号: | 201710655854.7 | 申请日: | 2017-08-03 |
公开(公告)号: | CN107421954A | 公开(公告)日: | 2017-12-01 |
发明(设计)人: | 王永斌 | 申请(专利权)人: | 合肥祥国电子商务有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 温州知远专利代理事务所(特殊普通合伙)33262 | 代理人: | 汤时达 |
地址: | 230000 安徽省合肥市经济技*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 陶瓷 礼品 表面化 质量 检测 系统 | ||
1.一种陶瓷礼品表面化质量检测系统,包括表面化检测系统,其特征在于:
所述表面化检测系统包括表面定位分析单元、光线散射检测单元、图像调控检测单元和工件定位输出单元;
所述表面化检测系统通过数据及位置信息定位模块与表面定位分析单元相联;
所述光线散射检测单元通过信息检测及信息模拟转换模块与表面化检测系统相联;
所述表面化检测系统通过信号传输及驱动控制模块与图像调控检测单元相联;
所述表面化检测系统通过信号传输及驱动控制模块与工件定位输出单元相联。
2.根据权利要求1所述的一种陶瓷礼品表面化质量检测系统,其特征在于:
所述表面定位分析单元通过信号传输线路与与陶瓷礼品检测装置内的三维空间定位模块相联,所述三维空间定位模块通过分析工艺礼品占据的三维空间信息,将工艺礼品的三维空间信息转换传输给表面定位分析单元。
3.根据权利要求1所述的一种陶瓷礼品表面化质量检测系统,其特征在于:
所述光线散射检测单元通过信号驱动模块与陶瓷礼品检测装置内的光线检测模块相联,所述光线检测模块通过对工艺礼品进行光线匀速扫描,并通过光线收集传感模块对扫描过程中的光线进行收集处理,将光线扫描收集信息传输给光线散射检测单元。
4.根据权利要求1所述的一种陶瓷礼品表面化质量检测系统,其特征在于:
所述图像调控单元通过信号控制线路与陶瓷礼品检测装置内的拍照监测模块相联,所述拍照检测模块调节摄像头对存在异常状态的工艺礼品的表面进行拍照,拍照照片通过数据转换传输线路传输给表面化检测系统。
5.根据权利要求1所述的一种陶瓷礼品表面化质量检测系统,其特征在于:
所述表面化检测系统获取异常状态的工艺礼品,并根据异常状态的工艺礼品的实时位置信息,采用工件定位输出单元将异常状态的工艺礼品进行物件传输操作。
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