[发明专利]一种基于元件的闭环测试方法

权利要求书

1.一种基于元件的闭环测试方法，其特征在于：通过组态软件进行元件组态，将每个元件的输出作为下一个元件的输入，下一个元件通过逆向组态上一个元件的算法使其得到的输出为上一个元件的输入，直到最后一个元件的输出给第一个元件的输入形成一个闭环回路的逻辑组态进行测试，其中所述逆向组态是利用组态软件对某元件算法的求解过程进行反向组态，反向组态所用的算法等同于该元件算法的逆算法。

2.根据权利要求1所述的一种基于元件的闭环测试方法，其特征在于：测试时，对所述闭环回路的某个元件指定一个输入值进行自动测试，然后通过观测下一个元件的输出值即可直观地判断该某个元件执行的正确性；判断方法是：

若下一个元件的输出值与上一个元件的输入值相等，则判断上一个元件的内部算法的逻辑计算正确；

若下一个元件的输出值与上一个元件的输入值不相等，则判断上一个元件的内部算法的逻辑计算有误。

3.根据权利要求2所述的一种基于元件的闭环测试方法，其特征在于：测试时采用同时输入法进行，具体是先对所述闭环回路的每个元件指定同一个输入值，从而使任意的上一个元件和下一个元件的首次输入值相同，下一个元件的后续输入值则为上一个元件的输出值，最后一个元件输出结果则作为第一个元件的后续输入值。

4.根据权利要求1所述的一种基于元件的闭环测试方法，其特征在于：每所述下一个元件是通过颗粒度更小的元件逻辑组态来实现同等的算法功能。