[发明专利]一种基于模板匹配的试卷题目定位方法及装置

说明书

本发明公开了一种基于模板匹配的试卷题目定位方法，包括：获取第一试卷的模板图像；利用所述模板图像确定第二试卷的样本图像的搜索区域；利用所述模板图像与所述搜索区域计算第二试卷的第一样本图像的第一相似度；判断所述第一相似度是否大于所述第二试卷的第一样本匹配度阈值，如果是，设定所述第一样本图像为所述第二试卷的定位图像。可见，本方案中，对试卷题目进行定位操作简单，试卷题目定位成本较低；且通过设定匹配度阈值，将满足所述匹配度阈值的样本图像才作为试卷的定位图像，定位准确度高。本发明还公开了一种基于模板匹配的试卷题目定位装置，同样能实现上述技术效果。

技术领域

本发明涉及计算机视觉领域，特别涉及一种基于模板匹配的试卷题目定位方法及装置。

背景技术

随着科学技术的发展，计算机在各个领域得到广泛应用。传统的人工阅卷效率低，精确度不高，而且还需要大量的人力和物力。因此，基于计算机的数字化阅卷系统成为了一种必然趋势。

基于计算机的数字化阅卷系统首先需要对试卷进行定位；传统的试卷定位方法可分为有定位点试卷定位和无定位点试卷定位，相对于前者，有定位点试卷其四个角上具有定位点标志，计算机通过定位点标志实现试卷题目的定位；相对于后者，通过识别无定点位试卷上的每道题目对应的数字题号或者矩形框实现试卷题目的定位。

但是，对于无定点位试卷，采用上述方法定位试卷题目时，因识别数字题号需要高精度的数字识别库，因此定位成本较高；同时，矩形框在变形或缺损时，计算机无法识别变形或缺损的矩形框，因此难以实现试卷题目的准确定位；对于有定位点的试卷，当定位点较模糊或缺损时，其定位准确度也较低。

因此，如何实现对试卷题目的准确定位，降低试卷定位成本是本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于模板匹配的试卷题目定位方法及装置，解决了对试卷题目定位时准确度低的问题，降低了对试卷题目进行定位的定位成本。

为实现上述目的，本发明实施例提供了如下技术方案：

一方面，本发明实施例提供了一种基于模板匹配的试卷题目定位方法，包括：

S1、获取第一试卷的模板图像；

S2、利用所述模板图像确定第二试卷的样本图像的搜索区域；

S3、利用所述模板图像与所述搜索区域计算第二试卷的第一样本图像的第一相似度；

S4、判断所述第一相似度是否大于所述第二试卷的第一样本匹配度阈值，如果是，进入S5；

优选的，所述S1包括：

S11、获取第一试卷的初始模板图像；

S12、计算所述初始模板图像的占空比；

S13、判断所述占空比是否大于占空比阈值，如果是，将所述初始模板图像作为所述第一试卷的模板图像。

优选的，所述S3包括：

S31、读入第二试卷与根据所述搜索区域确定的所述第一样本图像；

S32、将所述第一样本图像与模板图像进行匹配，得到第一样本匹配度；

S33、对所述模板图像进行模板匹配，得到模板匹配度；

S34、根据所述模板匹配度与所述第一样本匹配度计算所述第二试卷的第一相似度。

优选的，若S4中判定所述第一相似度不大于所述第一样本匹配度阈值，则所述方法还包括：

S6、以预定标准扩大所述搜索区域得到第二搜索区域；