[发明专利]安全继电器测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种安全继电器测试装置，其特征在于：包括MCU控制器、继电器触点测试模块、继电器线圈测试模块、电源保护控制单元、按键输入电路；

所述电源包括控制单元包括电源输入保护控制电路、DC-DC降压电路、DC-DC数控升压模块，所述电源输入保护控制电路的输入端连接市电；所述DC-DC数控升压模块依次经第一电源保护隔离电路和第一AC-DC开关电源接至所述电源输入保护控制电路的输出端，用于提供12V-120V电压；所述DC-DC降压电路依次经第二电源保护隔离电路和第二AC-DC开关电源接至所述电源输入保护控制电路的输出端，用于提供12V-5V电压；

所述继电器触点测试模块包括继电器触点测量板卡和第一ADC采集电路，所述继电器触点测量板卡以四线制测量方式连接待测继电器的触点，并通过所述第一ADC采集电路连接所述MCU控制器；

所述继电器线圈测试模块包括线圈电阻测量及卡滞测试切换电路、线圈电阻测量板卡和第二ADC采集电路；

所述线圈电阻测量及卡滞测试切换电路，以四线制测量方式连接待测继电器线圈，连接所述线圈电阻测量板卡，还依次通过电压电流采集电路、电子开关接至所述DC-DC数控升压模块；

所述电子开关通过IO隔离驱动电路连接所述MCU控制器；

所述MCU控制器，通过所述第二ADC采集电路连接所述电压电流采集电路和所述线圈电阻测量板卡，通过切换开关状态反馈电路连接所述线圈电阻测量及卡滞测试切换电路；

所述按键输入电路连接所述MCU控制器，用以设置测试参数；

该安全继电器测试装置的测试方法包括以下步骤：

通过所述MCU控制器控制所述线圈电阻测量及卡滞测试切换电路进行线圈电阻测量和卡滞测试切换；

进行线圈电阻及触点电阻测量时，通过所述MCU控制器控制所述电子开关的导通或断开，为接入到供电回路的继电器供电；所述DC-DC数控升压模块手动控制或程控输出不同电压，所述线圈电阻测量板卡测量不同电压下的线圈电阻，经所述第二ADC采集电路模拟-数字转换后上传至所述MCU控制器，所述继电器触点测量板卡测量不同电压下的触点电阻，经所述第一ADC采集电路模拟-数字转换后上传至所述MCU控制器；所述MCU控制器根据所述线圈电阻和所述触点电阻绘制继电器的动作特性图；

进行卡滞测试时，通过所述按键输入电路输入设定线圈供电电压、测试次数、测试吸合时间和测试间隔时间；所述DC-DC数控升压模块程控输出设定线圈供电电压，所述电压电流采集电路采集当前电压下的线路电流值，经所述第二ADC采集电路模拟-数字转换后上传至所述MCU控制器，所述MCU控制器计算当前线圈电阻，所述继电器触点测量板卡测量设定线圈电压下的触点电阻，经所述第一ADC采集电路模拟-数字转换后上传至所述MCU控制器。

2.根据权利要求1所述的安全继电器测试装置，其特征在于：还包括安全继电器测试座，所述安全继电器测试座设置十个继电器触点测量板卡、两个线圈电阻测量板卡、RS485串行接口、USB接口。

3.根据权利要求2所述的安全继电器测试装置，其特征在于：所述MCU控制器还连接有用于采集测试环境温湿度的温湿度传感器，用于存储测试数据的SD卡，以及用于安全继电器测试座状态指示的指示灯。

4.根据权利要求3所述的安全继电器测试装置，其特征在于：

所述继电器触点测量板卡包括顺次相连的低端驱动恒流源电路、高端驱动恒流源电路、滤波电路、输出逆流保护电路、触点测试接口、第一级输入保护电路、第一级信号缓冲电路、第一级输入信号滤波电路、第二信号缓冲电路、第二级输入信号滤波电路、输出级保护电路，所述第一级输入保护电路连接继电器的触点测试接口，所述输出级保护电路的输出端为电压反馈信号接口。

5.根据权利要求4所述的安全继电器测试装置，其特征在于：所述继电器触点测量板卡还设置有用于卡滞测试时进行触点电阻正常或异常指示的触点阻值比较电路，所述触点阻值比较电路的比较电压取自所述第一级输入信号滤波电路输出。