[发明专利]一种光纤分布式直放站的单体测试系统及方法

说明书

本发明属于直放站测试技术领域，公开了一种光纤分布式直放站的单体测试系统及方法，系统包括：FPGA模块、CPU模块、时钟模块、以太网物理层芯片PHY、FLASH存储器、DDR模块；方法中单体测试系统通过网口与电脑连接，单体测试系统通过光口与被测设备连接，所述被测设备为光纤分布式直放站的近端机或远端机。本发明解决了现有技术中直放站测试效率低、测试成本高的问题，达到了提高直放站测试效率、降低测试成本的技术效果。

技术领域

本发明涉及直放站测试技术领域，尤其涉及一种光纤分布式直放站的单体测试系统及方法。

背景技术

随着无线通信的发展，直放站成为移动通信信号覆盖系统的重要组成部分。光纤分布式直放站是借助光纤进行信号传输的直放站，具有传输损耗小、布线方便、适合远距离传输的特点。对于收不到基站信号的村镇、旅游区、公路等，利用光纤分布式直放站能够有效实现信号覆盖；对于要求较高的大型高层区域建筑物(群)、小区等，利用光纤分布式直放站能够有效解决存在的信号覆盖问题。

光纤分布式直放站主要由光近端机、光纤、光远端机(覆盖单元)组成。在常规的光纤分布式直放站的测试中，如图1和图2所示，将由近端机、光纤、远端机连接起来的直放站整机作为测试对象，采用信号源发生信号，信号通过直放站整机后由频谱仪接收，然后对信号进行分析从而测试直放站整机的各项指标。

在实际的运用中，通常还会有扩展单元连接在近端机和远端机之间，使一个近端机可以将信号发送到数量很多的远端机上。因此，在常规的光纤分布式直放站的测试，特别是批量生产中，需要大量的信号源、频谱仪来保证出厂测试设备指标的准确性和一致性，测试成本较高；在实际的运用中产品形态通常为一个近端机对应大量远端机的情况，这导致实际生产的远端机的数量会远远多于近端机，因此，将由近端机、光纤、远端机连接起来的直放站整机作为测试对象会导致测试效率低，测试成本高。

发明内容

本申请实施例通过提供一种光纤分布式直放站的单体测试系统及方法，解决了现有技术中直放站测试效率低、测试成本高的问题。

本申请实施例提供一种光纤分布式直放站的单体测试系统，包括：FPGA模块、CPU模块、时钟模块、以太网物理层芯片PHY、FLASH存储器、DDR模块；

所述FPGA模块分别与所述CPU模块、所述时钟模块、所述DDR模块连接，所述FPGA模块通过Serdes接口与光口连接；所述CPU模块与所述以太网物理层芯片PHY、所述FLASH存储器连接；所述以太网物理层芯片PHY与所述时钟模块、网口连接。

优选的，所述DDR模块包括第一DDR芯片和第二DDR芯片，所述第一DDR芯片用于存储发送方向的数据，所述第二DDR芯片用于存储接收方向的数据。

优选的，所述时钟模块具有第一参考时钟和第二参考时钟，所述第一参考时钟为本地晶振，所述第二参考时钟为所述FPGA模块提供；所述时钟模块输出系统时钟至所述FPGA模块，所述时钟模块输出PHY参考时钟至所述以太网物理层芯片PHY。

另一方面，本申请实施例提供一种光纤分布式直放站的单体测试方法，单体测试系统通过网口与电脑连接，单体测试系统通过光口与被测设备连接，所述被测设备为光纤分布式直放站的近端机或远端机。

优选的，在下行测试中，单体测试系统发送信号至被测设备，所述被测设备通过射频口与频谱仪连接；所述信号为单音信号、双音信号、扫频信号、调制信号中的一种；

所述单音信号、所述扫频信号由FPGA模块内部的数字控制振荡器NCO产生；所述双音信号通过在所述单音信号的基础上生成镜像形成；所述调制信号为波形文件，所述波形文件存储在FLASH存储器中，CPU模块提取所述波形文件并将所述波形文件传输至所述FPGA模块，所述FPGA模块接收所述波形文件后写入第一DDR芯片进行存储，完成存储后读出。