[发明专利]强电磁脉冲作用下屏蔽体时域屏蔽效能的等效测试方法

说明书

本发明涉及一种强电磁脉冲作用下屏蔽体时域屏蔽效能的等效测试方法，其特征是：至少包括如下步骤：S1，扫频发射测试屏蔽体的频域屏蔽效能；S2，将强电磁脉冲源时域波形通过傅立叶变换，获得频域谱特性；S3，在脉冲源场强频谱特性基础上，使其相应频点按S1中获得的屏蔽效能进行相应衰减，得到经屏蔽体衰减后的场强频谱特性；S4，将S3中获得的场强频谱特性，进行傅里叶逆变换获得对应脉冲源经屏蔽作用后的时域波形；通过对屏蔽前后时域波形的峰值之比，得到对应脉冲源作用下的时域屏蔽效能。本发明是具有操作简单方便、成本低，能获取真实强电磁脉冲环境下屏蔽体的防护抑制效果，分析屏蔽体对强电磁脉冲的防护能力。

技术领域

本发明属于电磁脉冲防护领域，提出了一种强电磁脉冲作用下屏蔽体时域屏蔽效能的等效测试方法。

背景技术

随着以半导体类器件为核心的各类电子元器件的性能向高频、高速方向发展，使得电子设备和系统对电磁骚扰的敏感度越来越低，电磁毁伤阈值也越来越低。越来越多的电子产品正面临着强电磁脉冲的严重威胁，电磁脉冲可通过孔缝耦合进入电子系统。对于孔口、缝隙耦合通常采取的强电磁脉冲的防护措施为屏蔽，即在空间上将辐射源与敏感设备进行隔离，阻断其传播路径。

屏蔽体对电子设备或者系统的强电磁脉冲防护加固效果，取决于其对脉冲信号瞬时峰值的抑制量级，通常由电磁脉冲时域屏蔽效能来衡量，即通过测试得到电磁脉冲屏蔽前后的时域波形，取其峰值之比计算得出。一般的单位并不具备专用电磁脉冲时域测量系统，并且电磁脉冲时域测试系统非常复杂，强电磁脉冲源种类多(例如核电磁脉冲、高功率微波、雷电等)，测试费用昂贵。因此研究一种屏蔽体的时域屏蔽效能等效测试方法将显得非常有意义。

发明内容

本发明的目的是提供一种操作简单方便、成本低的强电磁脉冲作用下屏蔽体时域屏蔽效能的等效测试方法，以便可以获取真实强电磁脉冲环境下屏蔽体的防护抑制效果，分析屏蔽体对强电磁脉冲的防护能力。

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案实现：一种强电磁脉冲作用下屏蔽体时域屏蔽效能的等效测试方法，其特征是：至少包括如下步骤：

S1，扫频发射测试屏蔽体的频域屏蔽效能；

S2，将强电磁脉冲源时域波形通过傅立叶变换，获得频域谱特性；

S3，在脉冲源场强频谱特性基础上，使其相应频点按S1中获得的屏蔽效能进行相应衰减，得到经屏蔽体衰减后的场强频谱特性；

S4，将S3中获得的场强频谱特性，进行傅里叶逆变换获得对应脉冲源经屏蔽作用后的时域波形；通过对屏蔽前后时域波形的峰值之比，得到对应脉冲源作用下的时域屏蔽效能。

所述的步骤S1包含：

S1.1，建立等效测试系统；

S1.2，在没有放置屏蔽体时，计算机控制信号源发射相应频点的信号，频谱仪接收到的信号为P₁(f)；

所述的相应频点信号的确定，指的是在9kHz～18GHz频率范围内，根据屏效在该范围内按照对数坐标连续缓慢变化的特点，将总的频率测试范围划分为不同的频段，在每个频段内测试频点按照对数分布；测试的频点总数在500～900之间动态调整；其中，9kHz～1MHz频段内测试频点数范围为40～80；1MHz～20MHz频段内测试频点数范围为40～80；20MHz～300MHz频段内测试频点数范围为150～250；300MHz～3GHz频段内测试频点数范围为150～250；3GHz～18GHz频段内测试频点数范围为100～200。

S1.3，放置屏蔽体时，计算机控制信号源发射与S1.2相对应的频点信号,并保持发射功率不变，频谱仪接收到的信号P₂(f)；

S1.4，步骤S1.2和步骤S1.3中测得的信号按照公式