[发明专利]力检测装置有效

专利信息
申请号: 201710622728.1 申请日: 2017-07-27
公开(公告)号: CN107665061B 公开(公告)日: 2022-04-19
发明(设计)人: 铃木崇章;保坂翔太;野口幸治;寺西康幸 申请(专利权)人: 株式会社日本显示器
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 张永明
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种力检测装置,包括:

力检测部,输出表示被检测物对输入面施加的力的校正前力信号值;

力检测控制部,输出与力的关系变成直线状的校正后力信号值;

触摸检测部,检测所述被检测物向所述输入面的接触或者接近;以及

触摸检测控制部,计算所述被检测物接触或者接近的坐标,

所述力检测部包括:

电极,与所述输入面相对;以及

导电体,夹着能够通过力变形的第一层以及第二层而与所述电极相对,

在多个力检测区域的每一个中具有预定的第一常数及第二常数,所述力检测控制部在所述第一层变形而所述第二层不变形的力的第一范围内,通过力与与施加有力的所述力检测区域对应的所述第一常数之积,计算所述校正后力信号值,在所述第一层以及所述第二层变形的力的第二范围内,通过表示所述第一范围和所述第二范围的边界的力阈值与所述第一常数之积和力和所述力阈值之间的差分与与施加有力的所述力检测区域对应的所述第二常数之积的和,计算所述校正后力信号值。

2.一种力检测装置,包括:

力检测部,输出表示被检测物对输入面施加的力的校正前力信号值;

力检测控制部,输出与力的关系变成直线状的校正后力信号值;

触摸检测部,检测所述被检测物向所述输入面的接触或者接近;以及

触摸检测控制部,计算所述被检测物接触或者接近的坐标,

所述力检测部包括:

电极,与所述输入面相对;以及

导电体,夹着能够通过力变形的第一层以及第二层而与所述电极相对,

所述力检测控制部在所述第一层变形而所述第二层不变形的力的第一范围内,通过力与预定的第一常数之积,计算所述校正后力信号值,在所述第一层以及所述第二层变形的力的第二范围内,通过表示所述第一范围和所述第二范围的边界的力阈值与所述第一常数之积和力和所述力阈值之间的差分与预定的第二常数之积的和,计算所述校正后力信号值,

所述力检测控制部包括:

力阈值表格存储部,与力检测区域的坐标对应地存储力阈值表格,所述力阈值表格储存有多个所述力阈值;

第一常数表格存储部,与所述力检测区域的坐标对应地存储第一常数表格,所述第一常数表格储存有多个所述第一常数;

第二常数表格存储部,与所述力检测区域的坐标对应地存储第二常数表格,所述第二常数表格储存有多个所述第二常数;

力阈值读出部,从所述力阈值表格读出与所述被检测物接触或者接近的坐标对应的所述力阈值;

力计算部,根据所述校正前力信号值来计算力;

比较部,比较由所述力阈值读出部读出的所述力阈值和由所述力计算部计算出的力,判定力是所述力阈值以下或者力大于所述力阈值;

第一力信号值计算部,在由所述比较部判定为力是所述力阈值以下时,使用与所述被检测物接触或者接近的坐标对应的所述第一常数,来计算所述校正后力信号值;以及

第二力信号值计算部,在由所述比较部判定为力大于所述力阈值时,使用与所述被检测物接触或者接近的坐标对应的所述第一常数以及所述第二常数,来计算所述校正后力信号值。

3.根据权利要求2所述的力检测装置,其中,

所述力检测控制部还包括:

相关表格存储部,存储表示所述电极和所述导电体之间的容量和所述校正前力信号值之间的相关的相关表格;

电位控制部,使所述导电体的电位成为基准电位或者把与施加于所述电极的驱动信号同相并且同振幅的信号施加到所述导电体;以及

力阈值表格调整部,通过所述导电体的电位成为所述基准电位时的所述校正前力信号值和对所述导电体施加了与施加于所述电极的驱动信号同相并且同振幅的信号时的所述校正前力信号值之间的差分,计算所述电极和所述导电体之间的容量,核对所述容量和所述相关表格,取得作为施加了基准力时的为所述校正前力信号值的基准力施加时校正前力信号值,根据所述基准力施加时校正前力信号值,调整在所述力阈值表格中储存的多个所述力阈值。

4.根据权利要求2所述的力检测装置,其中,

所述力检测控制部还包括力阈值表格调整部,所述力阈值表格调整部取得利用夹具施加了基准力时的为所述校正前力信号值的基准力施加时校正前力信号值,根据所述基准力施加时校正前力信号值,调整在所述力阈值表格中储存的多个所述力阈值。

5.根据权利要求1至4中的任一项所述的力检测装置,其中,

所述第一层是空气层,

所述第二层是缓冲层。

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