[发明专利]一种问题定位方法和设备在审
申请号: | 201710622097.3 | 申请日: | 2017-07-27 |
公开(公告)号: | CN107239404A | 公开(公告)日: | 2017-10-10 |
发明(设计)人: | 戴亦斌;陈鹏 | 申请(专利权)人: | 广州云测信息技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司11315 | 代理人: | 南霆 |
地址: | 510260 广东省广州市中*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 问题 定位 方法 设备 | ||
技术领域
本申请涉及软件测试技术领域,尤其涉及一种问题定位方法和设备。
背景技术
在软件开发过程中,通常会通过软件测试来检查软件的性能。在进行软件测试时,可以利用测试工具按照测试方案,在规定的条件下对被测试的软件进行操作,以发现软件错误,衡量软件质量,并对软件是否能满足设计要求进行评估。
现有技术中,在对软件进行测试时,可以由测试系统控制多个测试终端对被测软件进行测试,并根据多个测试终端得到的测试结果确定被测软件中存在的问题。其中,测试系统在控制多个测试终端对被测软件进行测试时,每一个测试终端可以在测试系统的控制下,对被测软件的测试过程进行截图,并在得到测试截图后,可以将测试截图上传给测试系统,这样,测试系统可以将测试截图展示给软件测试结果审核人员,软件测试结果审核人员在查看到测试截图后,可以根据测试截图定位被测软件中存在的问题。
软件测试结果审核人员在根据测试截图确定被测软件中存在的问题时,会逐一对多个测试截图进行分析,并在对多个测试截图进行分析的基础上,确定被测软件中存在的问题。然而,在实际应用中,测试终端得到的测试截图通常为多个,这样,在测试截图的数量较多的情况下,软件测试结果审核人员逐一对测试截图进行分析的时间将会比较长,导致分析效率较低。
发明内容
本申请实施例提供一种问题定位方法和设备,用于解决现有技术中软件测试结果审核人员在对测试截图进行分析以定位被测软件中存在的问题时,由于需要逐一对测试截图进行分析,导致分析时间较长、分析效率较低的问题。
本申请实施例提供一种问题定位方法,包括:
获取对所述被测软件进行测试得到的测试截图;
将所述测试截图与预期截图进行对比,确定不符合预期结果的所述测试截图,所述预期截图为所述预期结果对应的截图;
将不符合所述预期结果的所述测试截图进行推送,以便于根据所述测试截图定位所述被测软件中存在的问题。
本申请实施例提供一种问题定位设备,包括:
获取单元,获取对被测软件进行测试得到的测试截图;
确定单元,将所述测试截图与预期截图进行对比,确定不符合预期结果的所述测试截图,所述预期截图为所述预期结果对应的截图;
推送单元,将不符合所述预期结果的所述测试截图进行推送,以便于根据所述测试截图定位所述被测软件中存在的问题。
本申请实施例提供一种问题定位装置,包括:存储器和处理器,其中:
存储器,用于存放程序;
处理器,用于执行所述存储器存储的程序,并具体执行:
获取对被测软件进行测试得到的测试截图;
将所述测试截图与预期截图进行对比,确定不符合预期结果的所述测试截图,所述预期截图为所述预期结果对应的截图;
将不符合所述预期结果的所述测试截图进行推送,以便于根据所述测试截图定位所述被测软件中存在的问题。
本申请实施例提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储一个或多个程序,所述一个或多个程序当被包括多个应用程序的电子设备执行时,使得所述电子设备执行以下方法:
获取对被测软件进行测试得到的测试截图;
将所述测试截图与预期截图进行对比,确定不符合预期结果的所述测试截图,所述预期截图为所述预期结果对应的截图;
将不符合所述预期结果的所述测试截图进行推送,以便于根据所述测试截图定位所述被测软件中存在的问题。
本申请实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果:
本申请实施例提供的技术方案,在对被测软件进行测试得到测试截图后,可以将测试截图与预期结果对应的预期截图进行对比,确定不符合预期结果的测试截图,并将不符合预期结果的测试截图进行推送。这样,软件测试结果审核人员可以仅针对不符合预期结果的测试截图进行分析,并根据分析结果定位被测软件中存在的问题,相较于现有技术而言,由于减少了软件测试结果审核人员分析的测试截图的数量,因此,可以减少软件测试结果审核人员对测试截图进行分析的时间,有效提高对测试截图的分析效率。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
图1为本申请实施例提供的一种问题定位方法的流程示意图;
图2为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图;
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