[发明专利]用于零件检查的X射线后向散射在审

专利信息
申请号: 201710621462.9 申请日: 2017-07-27
公开(公告)号: CN107817257A 公开(公告)日: 2018-03-20
发明(设计)人: M·萨法伊 申请(专利权)人: 波音公司
主分类号: G01N23/203 分类号: G01N23/203;H01J35/14
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司11245 代理人: 徐东升,赵蓉民
地址: 美国伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 零件 检查 射线 散射
【权利要求书】:

1.一种用于零件的无损检查的X射线后向散射装置(10/100/109),所述装置(10)包括:

X射线发射器(12),其包括:

X射线防护罩(24),其包括发射孔(26);

在所述X射线防护罩(24)内的真空管(28);

封装在所述真空管(28)内并且选择性地操作以生成电子发射的阴极(30);以及

阳极(32),其被封装在所述真空管(28)内并且相对于所述阴极(30)安置,以接收所述电子发射并且将来自所述阴极(30)的所述电子发射转换为硬性X射线发射,并且所述阳极相对于所述发射孔(26)安置以引导所述硬性X射线发射的至少一部分通过所述发射孔(26);以及

波带片(102),其在所述X射线防护罩(24)外部并且相对于所述发射孔(26)安置,以从所述X射线防护罩(24)的所述发射孔(26)接收所述硬性X射线发射的所述部分,并且将从所述发射孔(26)接收的所述硬性X射线发射的所述部分聚焦为聚焦硬性X射线发射。

2.根据权利要求1所述的装置(10),其中所述波带片(102)包括多个菲涅尔区(120)。

3.根据权利要求2所述的装置(10),其中所述波带片(102)的所述多个菲涅尔区(120)中的至少一个具有与所述波带片(102)的焦距f相对应的至少一个半径。

4.根据权利要求1所述的装置(10),其中所述波带片(102)至少部分地由碳纳米管制造。

5.根据权利要求1所述的装置(10),其中所述波带片(102)包括表面处理(119)。

6.根据权利要求1所述的装置(10),其中所述硬性X射线流具有在约60keV和约80keV之间的能量等级。

7.根据权利要求1所述的装置,其进一步包括:

底座(22),所述X射线发射器连接到所述底座(22);以及

检查滤波器(16),其可移动地连接到所述底座(22),并且选择性地操作以接收来自所述X射线发射器(12)的所述硬性X射线发射,并且使所述硬性X射线发射的至少一部分穿过在所述检查滤波器(16)中的滤波器孔(18)到达零件(110)上的可选位置;其中所述波带片(102)被插入在所述X射线发射器(12)和所述检查滤波器(16)之间,以从所述X射线发射器(12)接收所述硬性X射线发射并且修改从所述X射线发射器(12)接收的所述硬性X射线发射的波束模式。

8.根据权利要求1所述的装置,其中所述检查滤波器包括具有多个孔的可转动环,其中所述多个孔中的至少一个孔不同于所述多个孔中的另一个孔。

9.一种利用X射线后向散射进行零件的无损检查的方法,所述方法包括:

在波带片(102)处接收来自X射线发射器(12)的硬性X射线发射;

用所述波带片(102)将所述硬性X射线发射聚焦成为聚焦硬性X射线发射;以及

用所述波带片(102)引导所述聚焦硬性X射线发射的至少一部分通过检查滤波器的第一滤波器孔并且到达所述零件的第一部分上。

10.根据权利要求9方法的所述的方法,其进一步包括调整所述检查滤波器相对于所述波带片(102)的取向,使得所述聚焦硬性X射线发射被引导通过所述检查滤波器的第二滤波器孔并且到达所述零件的第二部分上,其中所述第二滤波器孔不同于所述第一滤波器孔。

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