[发明专利]石英晶体微天平及检测方法

说明书

本发明实施例提供一种石英晶体微天平及检测方法。在一种实施方式中，所述石英晶体微天平包括：石英晶体；与所述石英晶体感应连接的高频振荡器，所述高频振荡器用于采样所述石英晶体的振荡频率；数据处理装置，所述数据处理装置包括：脉冲计数模块及频率计算模块；所述脉冲计数模块，用于记录所述高频振荡器采样所述振荡频率得到的震荡波形以得到所述高频振荡器采样得到的震荡波形的脉冲数；所述频率计算模块，用于根据所述脉冲数及所述高频振荡器的震动波形的周期计算得到所述石英晶体的振荡频率；所述石英晶体微天平通过测量吸附待测物品前后所述石英晶体的振荡频率变化以得到所述待测物品的物质的量。

技术领域

本发明涉及传感器检测技术领域，具体而言，涉及一种石英晶体微天平及检测方法。

背景技术

石英晶体微天平是一种非常灵敏的质量检测仪器，其测量精度可达纳克级，理论上可以测到的质量变化相当于单分子层或原子层的几分之一。

石英晶体微天平利用了石英晶体的压电效应，将石英晶体电极表面质量变化转化为石英晶体振荡电路输出电信号的频率变化，进而通过计算机等其他辅助设备获得高精度的数据。但是现有的石英晶体微天平及使用所述石英晶体微天平的检测方法测量精度仍显不足。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种石英晶体微天平及检测方法。

本发明实施例提供的一种石英晶体微天平，所述石英晶体微天平包括：

石英晶体；

与所述石英晶体感应连接的高频振荡器，所述高频振荡器用于采样所述石英晶体的振荡频率；

数据处理装置，所述数据处理装置包括：脉冲计数模块及频率计算模块；

所述脉冲计数模块，用于记录所述高频振荡器采样所述振荡频率得到的震荡波形以得到所述高频振荡器采样得到的震荡波形的脉冲数；

所述频率计算模块，用于根据所述脉冲数及所述高频振荡器的震动波形的周期计算得到所述石英晶体的振荡频率；

所述石英晶体微天平通过测量吸附待测物品前后所述石英晶体的振荡频率变化以得到所述待测物品的物质的量。

本发明实施例还提供一种检测方法，所述方法包括：

高频振荡器采样石英晶体吸附待测物品前后的振荡频率；

记录所述高频振荡器采样所述振荡频率得到的震荡波形以得到所述高频振荡器采样得到的震荡波形的脉冲数；

根据所述脉冲数及所述高频振荡器的震动波形的周期计算得到所述石英晶体的振荡频率；

根据测量得到的吸附待测物品前后的所述石英晶体的振荡频率变化以得到所述待测物品的物质的量。

与现有技术相比，本发明实施例的石英晶体微天平及检测方法，通过在所述石英晶体微天平中增加所述高频振荡器以采样所述石英晶体的震荡波形，再对记录所述高频振荡器的震动波形的周期计算得到所述石英晶体的振荡频率以进一步地计算待测试物品的物质的量，进一步地提高所述石英晶体微天平测量精度。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明较佳实施例提供的石英晶体微天平的方框示意图。