[发明专利]一种荧光检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种光学检测技术领域，尤其是涉及一种荧光检测装置。

背景技术

目前市面很多荧光检测装置都是用一个二相色镜片，将检测样本、激发光源和接受荧光装置形成一定的角度的方案，该方案不仅成本高，信号弱(光程长)，边缘效应等缺点，基于以上考虑发明本荧光检测装置。

现有的荧光检测装置一种是采用顶部激光的结构，其缺陷是信号比较弱，第二种是采用侧面激光的结构，由于光纤全部从侧面引出，导致占用的空间较大，无法实现大通量同时检测，且加工困难，无法工程化生产。

发明内容

本发明的目的是解决上述提出的问题，提供一种不仅成本低、信号强的一种荧光检测装置。本发明的目的是以如下方式实现的：一种荧光检测装置，包括激光光源装置、散热器装置和入射荧光检测装置，所述激发光源装置通过激发光纤与散热器装置上表面的样本管的底部连通，接受光纤汇聚成一束与入射荧光检测装置连接，所述入射荧光检测装置连接单片机进行读取并处理信号。

更进一步的优化方案是所述的一种荧光检测装置，所述激光光源装置的激光光源、透镜组和干涉滤光片组，所述激光光源发射的光源通过透镜组和干涉滤光片组进入激发光纤。

更进一步的优化方案是所述的一种荧光检测装置，所述散热器装置上表面的样本管的分布个数四的倍数，但不局限于此。

更进一步的优化方案是所述的一种荧光检测装置，散热器装置上表面具有四行交错分布的样本管，所述激发光纤和接受光纤穿过侧边的样本管盒子与样本管的底部连通。

更进一步的优化方案是所述的一种荧光检测装置，所述散热器装置底部设有温度循环设备，用于在细胞上做标记。

更进一步的优化方案是所述的一种荧光检测装置，所述激光光源为LED灯、卤素灯、氙气灯等常见光源，但不局限于此。

本发明的优点：本发明的技术方案不仅简单实用，便于后续工程化、批量生产、工艺简介明了；而且该方案样本管可以轻松拓展4*12、4*24、甚至4*48，满足批量化、大通量的检测需求；两根光纤直至样品底部，信号强，节约其他方案光信号弱的问题；并可以自由调节光纤与样本间的光程达到自由调节光强，解决传统方案光的不均匀性问题。

附图说明

为了使本发明的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本发明作进一步详细的说明，其中

图1是本发明的结构示意图；

图2是激光光源装置的结构示意图。

具体实施方式：

见图1和图2所示，一种荧光检测装置，包括激光光源装置1、散热器装置2和入射荧光检测装置3，所述激光光源装置1通过激发光纤4与散热器装置2上表面的样本管5的底部连通，接受光纤10汇聚成一束与入射荧光检测装置3连接，所述入射荧光检测装置3连接单片机进行读取并处理信号。

所述激光光源装置1的激光光源6、透镜组7和干涉滤光片组8，所述激光光源6发射的光源通过透镜组7和干涉滤光片组8进入激发光纤4。

所述散热器装置2上表面的样本管5的分布个数4*12、4*24或4*48。散热器装置2上表面具有四行交错分布的样本管5，所述激发光纤4和接受光纤5穿过侧边的样本管盒子9与样本管5的底部连通。所述散热器装置2底部设有温度循环设备，用于在细胞上做标记。

所述激光光源6为LED灯、卤素灯、氙气灯等常见光源。

以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。