[发明专利]一种IC在量产阶段写入唯一ID的方法在审
申请号: | 201710618859.2 | 申请日: | 2017-07-26 |
公开(公告)号: | CN107506268A | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
发明(设计)人: | 宋恩琳 | 申请(专利权)人: | 芯海科技(深圳)股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/20;G06F11/10;G06F11/07 |
代理公司: | 深圳市凯达知识产权事务所44256 | 代理人: | 刘大弯 |
地址: | 518067 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ic 量产 阶段 写入 唯一 id 方法 | ||
1.一种IC在量产阶段写入唯一ID的方法,其特征在于该方法首先在LoadBoard设计固定的硬件存储单元,该硬件存储单元存放一个可用的唯一ID,量产测试时,读取该硬件存储单元的ID,写入待测的IC中即可。
2.如权利要求1所述的IC在量产阶段写入唯一ID的方法,其特征在于该方法采用将异常检测和增加CRC4校验码的方式,发现任何异常和不匹配CRC4校验码,立即返回错误,停止烧写ID,以进行纠错。
3.如权利要求1所述的IC在量产阶段写入唯一ID的方法,其特征在于所述硬件存储单元分为两个区,即主存储区和镜像存储区,其中,主存储区用于记录日常生产过程中,唯一ID的使用情况和主存储区的使用寿命情况,镜像存储区用于对主存储区内容进行备份。
4.如权利要求3所述的IC在量产阶段写入唯一ID的方法,其特征在于将主存储区按页单元分为两部分,即“首页”和“当前使用页”,首页只进行读操作,该部分包括1)“当前使用页”指针P,该指针指向第二部分“当前使用页”,2)起始地址,记录可用ID段的起始地址,3)结束地址,记录可用ID段的结束地址;当前使用页,当前使用页的地址是变化的,具体位置有首页中的指针决定;当前使用页使用寿命达到理论值的2/3后,则需要放弃使用;该部分包括:1)当前地址,记录ID(Mac地址)段目前正在使用的地址,2)当前使用页次数,记录当前使用页已经擦写的次数,3)CRC校验码,记录所有内容生成的CRC校验码。
5.如权利要求4所述的IC在量产阶段写入唯一ID的方法,其特征在于镜像存储区同样按页分为两个部分,具体内部划分与主存储区完全相同。
6.如权利要求1所述的IC在量产阶段写入唯一ID的方法,其特征在于所述方法还设置有纠错机制,首先,读取数据结构体数据,然后检测当前页指针是否合理、判断起始地址是否全为0或F、判断结束地址是否全为0或F、判断当前地址是否位于起始结束之间、判断当前页CRC码是否正确,如果任何一项为否,则为异常,返回错误结果,停止将ID写入IC的操作。
7.如权利要求1所述的IC在量产阶段写入唯一ID的方法,其特征在于该方法,包括步骤如下:
S101、设计LoadBoard,将硬件存储单元焊接到LoadBoard上;
S102、将ID段,烧写到硬件存储单元中;
S103、加载量产测试程序;
S104、执行量产测试程序,根据量产测试程序,测试常规测试项目,直到所有的测试项均完成;有任何测试不通过则跳到212,否则继续。
S105、调用量产程序中的读写模块,将硬件存储单元中的所有内容读取到链表结构中;
S106、调用量产程序的纠错模块,对链表结构中的数据进行纠错检查。如果数据无异常则继续;
S107、调用量产程序的备份模块,备份当前链表的信息到log文件中,同时每隔500次,将硬件存储单元的主存储模块的内容备份到镜像模块中;
S108、检测待测IC芯片中是否已经写入ID,如果写入通过则继续,
S109、调用量产程序的读写模块,将当前地址+1,并且更新当前页使用次数和CRC校验码值,一起写入LoadBoard上的硬件存储单元;
S110、根据待测IC本身的时序要求,将当前地址写入待测IC芯片中;
S111、执行量产测试程序,直到待测的所有IC全部测试完成。
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