[发明专利]一种简易电迁移测试系统在审
申请号: | 201710618121.6 | 申请日: | 2017-07-26 |
公开(公告)号: | CN107389987A | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
发明(设计)人: | 廖广兰;孙博;邵杰;史铁林;汤自荣;谭先华;林建斌;王肖 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/00 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心42201 | 代理人: | 梁鹏,曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 简易 迁移 测试 系统 | ||
1.一种简易电迁移测试系统,该系统包括芯片夹持装置、反应腔、电化学工作站和信号采集站,其特征在于,
所述芯片夹持装置包括上板、下板、探针和信号引出线,所述上板和下板用于夹持待测试芯片,所述探针设置在所述上板上,且与所述信号引出线连接,该探针与待待测试芯片接触,通过所述信号引出线将待测试芯片的信号引出;
所述芯片夹持装置设置在所述反应腔内,该反应腔用于为待测试芯片提供高温和无氧环境;
所述电化学工作站与所述信号引出线连接,用于为待测试芯片提供电流,同时测试该待测试芯片的电压;
所述信号采集站用于设置所述电化学工作站的参数,并实时采集所述电化学工作站测试的电压并对该电压进行处理。
2.如权利要求1所述的一种简易电迁移测试系统,其特征在于,所述信号引线外表面设置有玻璃纤维管,用于保护所述信号引出线。
3.如权利要求1或2所述的一种简易电迁移测试系统,其特征在于,所述反应腔采用管式炉。
4.如权利要求1-3任一项所述的一种简易电迁移测试系统,其特征在于,所述电化学工作站优选采用数字源表。
5.如权利要求1-4任一项所述的一种简易电迁移测试系统,其特征在于,所述探针优选采用圆头铜探针。
6.如权利要求1-5任一项所述的一种简易电迁移测试系统,其特征在于,所述上板和下板之间设置有弹簧,用于避免芯片在夹持过程中破损。
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