[发明专利]激光对中仪量值溯源校准方法在审

专利信息
申请号: 201710614870.1 申请日: 2017-07-26
公开(公告)号: CN109307519A 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: 徐标寿 申请(专利权)人: 上海捷祥测控技术有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200120 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 校准 量值溯源 激光对中仪 激光 光学分度头 国家检定 检测夹具 检测位移 校准装置 测长仪 零位 溯源 规程 检测
【权利要求书】:

1.一种激光对中仪量值溯源校准方法;其特征在于,包括:激光对中仪的角度示值和位移示值校准,采用光学分度头、万能测长仪、测量芯轴和专用检测夹具,以及用这些仪器夹具进行组合的装夹方式和采用的测量工艺步骤,达到激光对中仪检测量值溯源的要求。

2.根据权利要求1所述的激光对中仪角度示值校准方法,其特征在于:采用光学分度头、测量芯轴和专用检测夹具,以及用这些仪器和夹具进行组合的装夹方式和采用的测量工艺步骤。

3.把测量芯轴装在光学分度头的两顶尖上,用V型夹具把激光对中仪两个的激光单元S和M同时安装在测量芯轴上,通过光学分度头驱动测量芯轴转动,使激光对中仪两激光单元同时转动,按照一定角度示值校准点(如0.0°、45.0°、90.0°、-45.0°、-90.0°)的要求,把光学分度头转到相应的角度间隔值,得到激光对中仪主机上显示的两激光单元测量出的角度值与光学分度头转动的间隔值的差值。

4.根据权利要求1所述的激光对中仪位移示值校准方法,其特征在于:采用万能测长仪,以及用这种仪器进行装夹和采用的测量工艺步骤。

5.把磁性V型架安装在万能测长仪测量主轴和尾管上,各安装一个激光单元,用数字水平仪调整磁性V型架,使两个激光单元处于平行位置并紧固好,移动万能测长仪测量主轴,使两激光单元大置处于同一垂直位置的上下两处,在激光对中仪主机软件中设置两激光单元显示的位移示值均为0.0mm,然后按照间隔1.0mm位移示值校准点的要求,把测长仪的测量主轴移动相应的位移间隔值,得到激光对中仪主机中两激光单元测量出的位移值和测长仪测量主轴移动的间隔值的差值。

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