[发明专利]内置光网络单元的智能变电站二次设备的测试方法、系统及二次设备有效
| 申请号: | 201710614231.5 | 申请日: | 2017-07-25 |
| 公开(公告)号: | CN107343230B | 公开(公告)日: | 2018-06-26 |
| 发明(设计)人: | 徐嘉龙;杜振华;朱炳铨;杨才明;刘刚;朱玛;李勇;余杰;俞小虎;陈骏杰;马平;余新生 | 申请(专利权)人: | 国网浙江省电力公司绍兴供电公司;北京四方继保自动化股份有限公司 |
| 主分类号: | H04Q11/00 | 分类号: | H04Q11/00;H04B10/077;H04L12/24 |
| 代理公司: | 北京金咨知识产权代理有限公司 11612 | 代理人: | 宋教花 |
| 地址: | 312000 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 二次设备 智能变电站 测试数据 内置 闭环 光网络单元 测试仪 测试 单板 调试 输出测试数据 光线路终端 测试效率 数据通信 整机测试 自动测试 业务口 插件 外置 输出 返回 外部 | ||
本发明公开了一种内置光网络单元的智能变电站二次设备的测试方法、系统及二次设备,智能变电站二次设备的数据通信单板插件上设置有千兆调试口,该方法包括以下步骤:由外部测试仪输出测试数据;经由所述千兆调试口将测试数据输入至智能变电站二次设备;将测试数据经所述智能变电站二次设备的内置ONU的业务口输出至光线路终端OLT;将测试数据经外置ONU返回到测试仪,从而形成测试闭环,进行闭环自动测试。本发明的方法可以为智能变电站二次设备的单板或整机测试带来方便,提高测试效率。
技术领域
本发明属于智能变电站领域,具体涉及一种内置光网络单元的智能变电站二次设备的测试方法、系统及二次设备。
背景技术
目前国内智能变电站网络大多是基于工业以太网构建,而以太网技术是一种面向非连接的存在一定程度资源竞争的通信技术,目的是为了最大限度的提高通信资源的利用效率,因此,以太网通信技术具有很强的组网灵活性。但在提高通信效率的同时,却在通信的严格性和资源有序分配方面做了一些牺牲,以太网技术在智能变电站的应用过程中暴露出了一些问题,主要有如下几个方面:(1)由于通信资源的竞争存在的不确定性,无法保证智能变电站设备对数据传输时延、可靠性和稳定性的极高要求;(2)智能变电站二测设备中的继电保护装置的数据传递要求的时延短且稳定,而以太网技术在通信稳定时延方面存在问题;以及(3)为了保证通信的可靠性,继电保护装置不允许通道之间相互影响,而以太网技术组成的通道之间存在相互影响的现象。
基于面向连接的以太网无源光网络(EPON)技术可以有效解决传统以太网技术导致的智能变电站二次设备接入问题,其利用无源光网络(PON)拓扑结构实现了以太网的接入,不仅综合了PON技术和以太网技术的优点,且扩展性强。基于EPON技术,智能变电站的二次设备在接入网络时一般采用外置光网络单元(ONU)的方式,外置ONU的优点是接线方便,但是每一台二次设备都需要安装外置ONU,导致设备繁多、系统的可靠性有所降低,且对工程设计和调试带来复杂性。若将ONU内置到数据通信单板插件(或称数据通信板卡)上,可有效降低功率,提高可靠性,简化工程设计环节,同时达到免维护的目的。由于ONU正常运行需要光线路终端(OLT)对其进行配置,同时在现场调试或实验室情况下需要对ONU进行功能和性能测试,而现有技术中尚没有对内置ONU的有效的测试方法,因此ONU内置到数据通信板卡后,需提供一种对内置ONU的便利的调试和测试技术。
发明内容
针对内置ONU模块的测试问题,本发明的目的在于提供一种内置ONU的智能变电站二次设备的测试方法、系统及二次设备,来有效解决内置有ONU的智能变电站二次设备的测试问题,从而提高测试效率。
本发明的技术方案如下:
本发明提供一种内置光网络单元(ONU)的智能变电站二次设备的测试方法,所述智能变电站二次设备的数据通信单板插件上设置有千兆调试口,该方法包括以下步骤:
由外部测试仪输出测试数据;
经由所述千兆调试口将测试数据输入至智能变电站二次设备;
将测试数据经所述智能变电站二次设备的内置ONU的业务口输出至光线路终端OLT;
将测试数据经外置ONU返回到测试仪,从而形成测试闭环,进行闭环自动测试。
优选地,所述方法还包括:控制智能变电站二次设备内数据传输通道的切换,使得:在智能变电站二次设备进行测试时沿经由所述千兆调试口的数据测试路径传输测试数据,从而进行所述闭环自动测试;在所述智能变电站二次设备正常运行时沿业务数据交换路径在智能变电站二次设备内传输正常业务数据,进行正常的业务数据交换。
优选地,在所述智能变电站二次设备正常运行时,所述千兆调试口对外呈高阻状态,不导通。
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