[发明专利]一种服务器系统下单体内存功耗测试设计方法

说明书

技术领域

本发明涉及服务器系统功耗测试技术领域，具体地说是一种服务器系统下单体内存功耗测试设计方法。

背景技术

云计算的不断发展，给各行各业带来的便利在不断的显现，我们生活中对云计算、大数据的需求也不断的增加，为满足这一不断增加的需求，各地大型企业在不断的增扩数据中心，服务器的需求量也在增长，带来的最直接的结果就是电力需求的增加，为了实现节能目标，各方都在研究更节能的数据中心方案，之前是在机柜级、服务器级别的分析，如今需要更细致的分析，要深入到服务器中各部件功耗的分布，以求找到功耗降低点，实现节能设计，由于很多部件使用的是金手指连接供电，例如内存、显卡等，传统方法无法使用设备直接测量出来，尤其是内存，各种类型的服务器都必不可少的部件，得到其具体的能耗，对设计出更节能的服务器将有很大的帮助。

功耗测试，首先我们在测试功耗时，最基本的方法是使用设备先测试出来电压和电流，然后使用功耗公式P=U*I来得到功耗值。这种方式在较大的空间内可以实现，因为主要取决于电流测试，电流测试需要电流钳，因电流钳个头较大，而且需要钳住供电线缆，这样才能得到有效数据。内存是插在主板内存槽上的，使用金手指供电，无线缆，因此无法使用电流钳。

现有技术的功耗分析中，内存的功耗数据是通过BMC获取的，通过对大量数据的分析看，通过BMC获取的内存功耗数据，在相同配置下，使用相同的压力软件，功耗差异较大，且只能得到精确到整数位的功耗值，这对进一步精确分析功耗意义不大。虽然可以满足对内存功耗的获取要求，但是其存在以下缺点，1、得到的功耗值精度差，对功耗精细分析意义不大；2、通过BMC获取功耗，开发过程中只有等待BMC开发完成后才能使用，导致功耗分析滞后，无法项目前期给出具体有效的功耗分析意见。

发明内容

本发明的技术任务是针对以上不足之处，提出了一种操作简单，测试结果精度高的一种服务器系统下单体内存功耗测试设计方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种服务器系统下单体内存功耗测试系统，包括内存、内存槽和功耗测试转接模块；功耗测试转接模块包括功耗测试转接卡和电阻，所述的功耗测试转接卡用于转接内存和内存槽，所述的电阻配置在功耗测试转接卡上。

进一步的，优选的结构为，所述的功耗测试转接卡与内存连接，功耗测试转接卡的pin定义方式与内存相同。

一种服务器系统下单体内存功耗测试设计方法，所述的方法应用于服务器系统，方法包括：在单体内存上配置功耗测试转接卡；在所述功耗测试转接卡上配置电阻；通过测量所述的电阻两端的电压值，计算出所述内存的单体功耗值。

进一步，优选的方法为，具体步骤如下：

S1、制作功耗测试转接卡，所述的功耗测试转接卡的一端连接内存；另一端连接内存槽，所述的功耗测试转接卡和内存具有一样的pin定义方式；

S2、在功耗测试转接卡上，配置一颗电阻，所述的电阻放置在内存直流供电的正极路径上，测试环境组装完成；

S3、测试开始，分别测量电阻两端的电压值；

S4、计算出内存的单体功耗。

进一步，优选的方法为，所述的电阻为10毫欧姆的电阻，以减少压降及对内存工作的影响。

本发明的一种服务器系统下单体内存功耗测试设计方法和现有技术相比，有益效果如下：

1、本发明使用的测试方法，可以在对主板不进行破坏的情况下，实现功耗测试，而且测试精度高；

2、操作简单，测试结果可以即刻得到，避免了功耗分析滞后的发生，可以在项目前期给出具体有效的功耗分析意见；

3、功耗值测试精确，使得功耗分析结果更准确，对系统功耗分布分析具有很大的参考价值,更具有指导意义。

附图说明

下面结合附图对本发明进一步说明。

附图1一种服务器系统下单体内存功耗测试系统的结构原理图；

附图2为电阻的电压测试示意图；

其中：1、内存；2、内存槽；3、功耗测试转接卡；4、电阻。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明。

本发明通过制作一个功耗测试转接卡，用于连接内存和内存槽，在功耗测试转接卡的内存供电的正极处设置一个小阻值的电阻，通过高精度数字万用表，测量出电压值，然后使用公式来计算出内存的单体功耗值，此测试方法可以得到内存的实际工作的真实功率值，具有操作简单，测试结果精度高的优势，完全可以推广到服务器的测试中。