[发明专利]用于对毫米波进行空中测试的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201710600673.4 申请日: 2017-07-21
公开(公告)号: CN107643452B 公开(公告)日: 2021-01-26
发明(设计)人: M·福格利 申请(专利权)人: 美国电磁兼容测试系统公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 林伟峰
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 毫米波 进行 空中 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种配置成经由多个测试模式之一来测试被测装置DUT(1)的系统,所述系统包括:

第一机械臂定位器(20a),其具有六个运动的自由度,并具有第一天线(19a),所述第一天线(19a)置于所述第一机械臂定位器(20a)的端部,所述第一机械臂定位器(20a)的所述端部能够定位于所述DUT(1)周围的球体表面上;

第二机械臂定位器(20b),其具有六个运动的自由度,并具有第二天线(19b),所述第二天线(19b)置于所述第二机械臂定位器(20b)的端部,所述第二机械臂定位器(20b)的所述端部能够定位于所述DUT(1)周围的球体表面上;

电路(32),配置成:

实施多个测试模式之一,所述多个测试模式包含:

探测模式,其中,针对所述第一天线(19a)的至少一个位置中的每个位置,所述第一天线被配置为辐射通信信号,并且所述第二天线(19b)被配置为被动地监视由DUT产生的波束方向图以确定波束方向图;以及

干扰模式,其中,针对所述第一天线(19a)的至少一个位置中的每个位置,所述第一天线被配置为辐射通信信号,并且所述第二天线(19b)在所述第二天线(19b)的第二组位置中的每个位置处向所述DUT(1)传输干扰信号,所述第二组位置被选择以确定DUT(1)的波束成形天线的能力,从而使DUT(1)处的信号干扰比最大化。

2.根据权利要求1所述的系统,其中所述电路(32)进一步包括接收电路(18)和传输电路(18)中至少之一,所述接收电路(18)和传输电路(18)安装在所述第二机械臂定位器(20b)上,且配置成执行以下至少一项:在所述探测模式下从所述DUT(1)接收信号,和在所述干扰模式下向所述DUT(1)传输干扰信号。

3.根据权利要求1所述的系统,进一步包括具有第三天线的第三定位器,且其中所述电路进一步配置成实施第二干扰模式,其针对所述第一天线(19a)的至少一个位置中的每个位置使所述第三天线在所述第三天线的第三组位置中的每个位置处向所述DUT(1)传输第二干扰信号。

4.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个测试模式进一步包含第三模式,其针对所述第一天线(19a)的至少一个位置中的每个位置使所述第一天线(19a)向所述DUT(1)传输第一通信信号,且针对所述第二天线(19b)的至少一个位置中的每个位置使所述第二天线(19b)向所述DUT(1)传输第二通信信号,以便测试所述DUT(1)的性能。

5.一种用于在多个模式之一中测试被测装置DUT(1)的设备,所述设备包括:

第一天线(19a),其能够定位于第一机械臂定位器的端部;

所述第一机械臂定位器(20a)具有六个运动的自由度,并配置成将所述第一天线(19a)定位在第一多个位置处,所述第一多个位置在所述DUT(1)周围;

第一通信端点(30a),与所述第一天线(19a)电连通且配置成向所述DUT(1)传输信号;

第二天线(19b),其能够定位于第二机械臂定位器的端部;

所述第二机械定位器(20b)具有六个运动的自由度,并配置成将所述第二天线(19b)定位在第二多个位置处,所述第二多个位置在所述DUT(1)周围;以及

第二通信端点(30b),与所述第二天线(19b)电连通且配置成在多个测试模式之一中操作,所述测试模式包含探测模式和干扰模式中至少之一,所述第二天线(19b)配置成在所述探测模式下,被动地监视由DUT产生的波束方向图以确定波束方向图、且配置成在所述干扰模式下,向位于所述第二天线的所述第二多个位置中的每个位置的所述DUT传输干扰信号,以确定DUT(1)的波束成形天线的能力,从而使DUT(1)处的信号干扰比最大化。

6.根据权利要求5所述的设备,其中:

所述第二机械臂定位器(20b)具有多个接头,所述多个接头配置成提供多个自由度以使得能够改变围绕所述DUT(1)的所述第二机械臂定位器的端部的位置;以及

所述第二天线(19b)安装在所述第二机械臂定位器(20b)的端部处。

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