[发明专利]一种星载激光雷达探测器高精度校准系统

权利要求书

1.一种星载激光雷达探测器高精度校准系统，其特征在于包括：校准光源(1)、毛玻璃(2)、小孔光阑(3)、准直镜(4)、第一耦合镜(5)、光纤(6)和若干个待校准探测器组件(7)；其中，

所述待校准探测器组件(7)包括第二耦合镜(71)、滤光片(72)、50/50分光棱镜(73)、衰减片组(74)、待校准探测器(75)和标准功率计(76)；

校准光源(1)产生光源经过毛玻璃(2)形成均匀光源，均匀光源经过小孔光阑(3)形成理想点光源，理想点光源经过准直镜(4)形成准直平行光，准直平行光通过第一耦合镜(5)耦合进入光纤(6)，再通过光纤(6)进入第二耦合镜(71)后输出耦合光，耦合光经过滤光片(72)形成过滤光，过滤光经过50/50分光棱镜(73)分成光强相等的两路光，一路光照射标准功率计(76)，标准功率计(76)实时获取该路光的光强，另一路光经过衰减片组(74)形成衰减光，衰减光照射到待校准探测器(75)；

所述校准光源(1)包括脉冲电源(110)和LED(120)，其中，

脉冲电源(110)驱动LED(120)产生脉冲信号光；

调节脉冲电源(110)的输出电流强度改变衰减光的强度，当衰减光无法被待校准探测器(75)有效探测的开始时刻时，标准功率计(76)测到光强为P₁，根据光强P₁和衰减片组衰减系数η得到待校准探测器(75)的灵敏度；

或所述校准光源(1)包括激光器(130)和第二分光棱镜(140)，其中，

激光器(130)产生窄脉冲光，窄脉冲光经过第二分光棱镜(140)形成衰减窄脉冲光；

衰减光照射到待校准探测器(75)，待校准探测器(75)根据衰减光得到渡越时间、上升时间和下降时间。

2.根据权利要求1所述的星载激光雷达探测器高精度校准系统，其特征在于：根据光强P₁和衰减片组衰减系数η得到待校准探测器(75)的灵敏度P的公式如下：

P＝ηP₁。

3.根据权利要求1所述的星载激光雷达探测器高精度校准系统，其特征在于：第二分光棱镜(140)的分光比可为0.1/99.9～50/50。

4.根据权利要求3所述的星载激光雷达探测器高精度校准系统，其特征在于：激光器(130)产生的窄脉冲光为ns级宽度。

5.根据权利要求1所述的星载激光雷达探测器高精度校准系统，其特征在于：第一耦合镜(5)通过光纤(6)与第二耦合镜(71)相连接。