[发明专利]多频带噪声降低系统和方法

说明书

在本文中讨论了涉及降低在处理信号时引入到信号中的噪声的系统和方法。在实施例中，信号最初可以被多路复用器分割成两个或更多个频带。每一个频带然后可以被转发通过所分配的通道。一个或多个通道可以包括放大器，以便在所分配的通道的噪声源之前独立地提升分配给所述通道的信号频带。这导致相对于由噪声源引入的噪声提升信号频带。在一些实施例中，滤波器也可以被实现在一个或多个通道中以从所述通道去除处于分配给所述通道的信号频带的带宽之外的噪声。附加的实施例可以在本文中被描述和/或要求保护。

对相关申请的交叉引用

本申请要求受益于由John J. Pickerd等人于2016年7月20日提交的序列号为62/ 364571，并且标题为“Biamp CTLE Test Instrument Noise Reduction System”的美国临时专利申请，其全部内容通过引用如同复制一样并入本文。

技术领域

本公开涉及与噪声降低相关联的系统和方法，并且更具体地，涉及用于利用多个频带来降低噪声的系统和方法。

背景技术

数字化系统被设计为处理模拟信号以产生作为数字信号的模拟信号的数字化表示。在执行该处理时，数字化系统可能将不想要的噪声引入到所得到的数字信号中，这导致所得到的数字信号不准确地表示原始模拟信号。虽然通过使用更好的工程设计实践或更高质量的部件和/或材料可以稍微降低该噪声，但是在当前的技术水平下，仍然可能存在由甚至高质量数字化系统引入的噪声量的问题。这在诸如例如数字测试和测量系统的领域中尤其成问题，工程师依赖数字测试和测量系统来测量模拟信号的高准确度表示。在一些情况下，某些频率（例如，高频）甚至可能在这种测试和测量系统的本底噪声中丢失。因此，数字化系统引入的噪声量可能是一个问题。

本发明的实施例解决了这些和其他问题。

附图说明

图1是根据本公开的各个方面的采用噪声降低的测试和测量系统的说明性框图。

图2是根据本公开的各个方面针对差分信号采用噪声降低的测试和测量系统的说明性框图。

图3是根据本公开的各个方面针对差分信号采用噪声降低的测试和测量系统的另一说明性框图。

图4是根据本公开的各个方面的采用噪声降低的测试和测量系统的另一说明性框图。

图5是根据本公开的各个方面的采用噪声降低的测试和测量系统的说明性系统级框图。

图6是根据本公开的各个方面在单个示波器中针对多个信号采用噪声降低的测试和测量系统的说明性系统级框图。

图7是根据本公开的各个方面针对多个信号或差分信号采用噪声降低的测试和测量系统的说明性系统级框图。

图8是根据本公开的各个方面针对多个差分信号采用噪声降低的测试和测量系统的说明性系统级框图。

图9是根据本公开的各个方面在单个示波器中针对多个差分信号采用噪声降低的测试和测量系统的说明性系统级框图。

图10是描绘根据本公开的各个方面的频域中的输入信号和对应输出信号的说明性图形。

图11是描绘根据本公开的各个方面的时域中的输入信号和对应输出信号的说明性图形。

图12是根据本公开的各个方面的由多频带系统处理的波形对利用单个通道采样的波形的说明性图形。

图13是多频带系统的实施例中的噪声降低图形。

图14是由多频带系统采样的波形与利用单个通道采样的波形相比较的另一实施例的图形。

图15是描绘根据本公开的各个方面的噪声降低的说明性图形。