[发明专利]一种流水线金属探测装置

说明书

技术领域

本发明涉及金属检测技术，尤其是涉及一种流水线金属探测装置。

背景技术

在生产加工过程中，原材料中可能夹杂有金属碎片，或者设备上掉下的金属碎屑之类的金属物体参杂到原材料中，会对后续加工及产品质量造成影响；目前市面上已经有不少的金属探测仪，但是，产品加工现场杂散的电磁干扰较严重，如果灵敏度高了探测仪容易发生误报，灵敏度低了微小的金属碎片又无法有效的检测到，所以实际上市面现有的金属探测仪根本没法使用。

发明内容

本发明的目的是针对上述现状，提供一种流水线金属探测装置。

本发明采用的技术方案为：一种流水线金属探测装置，包括：流水线、与设置在所述流水线上方且与所述流水线连接的金属探测器、与所述金属探测器连接的声光报警装置，所述金属探测器包括：一电源、一振荡电路、一检测电路、一比较电路及一触发控制电路，所述振荡电路、所述检测电路、所述比较电路及所述触发控制电路分别与所述电源连接，所述振荡电路的输出端连接所述检测电路的输入端，所述检测电路的输出端连接所述比较电路的输入端，所述比较电路的输出端连接所述触发控制电路的输入端，所述触发控制电路的输出端与所述流水线及所述声光报警装置连接，所述检测电路包括一第一线圈及一第二线圈，所述第一线圈和所述第二线圈相互平行的设置在所述流水线的正上方，且与所述流水线的距离为2-5cm。

本发明的效果是：本发明所述的一种流水线金属探测装置，其结构简单，能有效避免生产现场其他设备的电磁干扰，提升了金属检测的准确率。

附图说明

图1所示为本发明提供的一种流水线金属探测装置的示意图；

图2所示为图1中金属探测器的电路图；

图3所示为图2中第一线圈与第二线圈的示意图。

具体实施方式

下面结合附图介绍本发明提供的流水线金属探测装置：

请参阅图1，为本发明提供的一种流水线金属探测装置，其包括：流水线1、与设置在流水线1上方且与流水线1连接的金属探测器2、与金属探测器2连接的声光报警装置3。

金属探测器2包括电源、振荡电路21、与振荡电路21连接的检测电路22、与检测电路22连接的比较电路23和与比较电路23连接的触发控制电路24。

振荡电路21包括：第一比较器211、与第一比较器211的同相输入端连接的第一电阻R1、第二电阻R2、第四电阻R4，与第一比较器211的反相输入端连接的第一电容C1、第三电阻R3，与第三电阻R3连接的第五电阻R5，第一比较器211的输出端与检测电路22连接，第一比较器211上设有分别连接电源及接地的接口。

进一步，在本实施方式中，第一电阻R1、第五电阻R5的另一端与电源连接，第二电阻R2、第一电容C1的另一端接地，第三电阻R3、第四电阻R4的另一端与第一比较器211的输出端连接。

进一步，在本实施方式中，第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4的阻值为100KΩ，第五电阻R5的阻值为2.2KΩ，第一电容C1的电容量为56nF。

检测电路22包括：第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9、第一三极管T1、第二三极管T2、第一线圈L1、第二线圈L2、第一二极管D1和第二二极管D2；第六电阻R6、第七电阻R7的一端与第一比较器211的输出端连接，另一端分别与第一三极管T1、第二三极管T2的基极连接；第一线圈L1、第一二极管D1的一端与电源连接，另一端与第一三极管T1的集电极连接；第二线圈L2、第二二极管D2一端与电源连接，另一端与第二三极管T2的集电极连接；第八电阻R8一端接地，另一端与第一三极管T1的发射极连接；第九电阻R9一端接地，另一端与第二三极管T2的发射极连接；第一三极管T1、第二三极管T2的发射极与比较电路23连接。

进一步，在本实施方式中，第一二极管D1的负极连接电源，第一二极管D1的正极连接第一三极管T1的集电极；第二二极管D2的负极连接电源，第二二极管D2的正极连接第一三极管T1的集电极。

进一步，在本实施方式中，第六电阻R6、第七电阻R7的阻值为100Ω，第八电阻R8、第九电阻R9的阻值为510Ω。

进一步，在本实施方式中，第一线圈L1和第二线圈L2相互平行的设置在流水线1的上方，且与流水线1的距离为2-5cm,这样两个线圈处于同一环境，所感应到的杂散电磁干扰也是相同的，以此来抵消杂散电磁干扰对金属探测器2造成的影响。