[发明专利]用于传输线天线的测试连接装置、测试装置及其测试方法

说明书

本发明公开了一种用于传输线天线的测试连接装置、测试装置及其测试方法，该测试转接装置包括：短路导电体，被设置为用于连接传输线天线的同轴接头的外导体与内导体，以短路连接同轴接头；以及转接装置，包括第一连接件、第二连接件、及用于连接测试仪的至少一个连接接口，每一连接接口的正极端子与第一连接件电连接，每一连接接口的负极端子与第二连接件电连接；第一连接件被设置为用于与所选择的位于传输线天线的传输信号线上的第一测试点电连接，第二连接件被设置为用于与所选择的位于传输线天线的地层上的第二测试点电连接。通过本发明测试连接装置，将无需再进行在同轴接头上插拔同轴转接头的操作，进而能够避免对同轴接头造成损伤。

技术领域

本发明涉及传输线天线测试领域，更具体地，本发明涉及一种用于传输线天线的测试连接装置、一种用于传输线天线的测试装置、及根据该测试装置的测试方法。

背景技术

近年来，无线通信技术发展迅速，尤其是智能手机、可穿戴手环、手表、眼镜等可穿戴设备的应用，天线和传输信号线更多地集成在一起形成传输线天线。同时，可穿戴设备的应用环境使得传输线天线会在多处或多个纬度折弯，因此，需要对传输线天线进行测试，以确定传输线天线在经过各种折弯后是否被损坏。

传输线天线的传统测试方法中必须要使用同轴转接头，具体为：在传输线天线的同轴接头处连接相应的同轴转接头，以通过同轴转接头连接测试仪，如网络分析仪，的测试信号输出接口，以通过测试仪向传输线天线输出测试信号来测试传输线天线的参数，进而根据测试得到的参数确定传输线天线是否被损坏。

这种测试方式存在的缺陷包括：1)同轴接头处连接相应的同轴转接头，测试一次需插拔两次，同轴转接头容易磨损，而且传输线天线较薄，容易拉伤同轴接头；2)同轴接头处连接相应的同轴转接头，会影响传输线天线的测试速度，使得测试速度降低一半。

由此可见，以上缺陷均是由于在同轴接头上连接同轴转接头进行测试仪与传输线天线之间的连接导致的，因此，非常有必要提出一种新的连接方案，以至少解决同轴接头在测试中可能会被拉伤的问题。

发明内容

本发明实施例的一个目的是提供一种对传输线天线进行测试连接的新的技术方案。

根据本发明的第一方面，提供了一种用于传输线天线的测试连接装置，所述传输线天线包括同轴接头、传输信号线、天线和地层，所述同轴接头的外导体与所述地层电连接，所述同轴接头的内导体与所述传输信号线的第一端连接，所述传输信号线的第二端与所述天线电连接，所述测试转接装置包括：

短路导电体，被设置为用于连接所述外导体与所述内导体，以通过所述短路导电体短路连接所述同轴接头；以及，

转接装置，包括第一连接件、第二连接件、及用于连接测试仪的至少一个连接接口，每一所述连接接口的正极端子与所述第一连接件电连接，每一所述连接接口的负极端子与所述第二连接件电连接；所述第一连接件被设置为用于与所选择的位于所述传输信号线上的第一测试点电连接，所述第二连接件被设置为用于与所选择的位于所述地层上的第二测试点电连接。

可选的是，所述测试连接装置还包括定位装置，所述定位装置包括：

底座；

第一支架和第二支架，二者在直线方向上相对设置在所述底座上，所述短路导电体设置在所述第二支架的、面向所述第一支架的端面上；以及，

驱动机构，所述驱动机构被设置为用于驱动所述第二支架沿所述直线方向朝向所述第一支架运动，以通过所述第一支架与所述第二支架夹持所述同轴接头、并同时通过所述短路导电体短路连接所述同轴接头。

可选的是，所述定位装置还包括导向滑轨，所述导向滑轨设置在所述底座上，所述第二支架与所述导向滑轨配合连接，以使所述第二支架在所述驱动机构驱动的情况下沿所述直线方向滑动。

可选的是，所述短路导电体包括导电胶或者导电泡棉。