[发明专利]位置校正方法和系统

权利要求书

1.一种位置校正方法，其特征在于：其包括：

通过晶体阵列接收光子并产生光信号，所述晶体阵列包括具有不同的晶体衰减时间的至少两种晶体，所述至少两种晶体在接收光子的接收面上间隔排列；

将所述光信号转换为电信号；

根据所述电信号确定所述光子入射至所述晶体阵列的位置信息和所述电信号的信号衰减时间；及

比对所述信号衰减时间和所述晶体衰减时间，确定所述信号衰减时间所符合的所述晶体衰减时间对应的晶体，来校正所述位置信息；

所述根据所述电信号确定所述光子入射至所述晶体阵列的位置信息和所述电信号的信号衰减时间，包括：

构建编码分割表，所述编码分割表包括与所述晶体阵列的晶体相对应的若干编码区域；及利用所述编码分割表确定所述位置信息；

所述比对所述信号衰减时间和所述晶体衰减时间，确定所述信号衰减时间所符合的所述晶体衰减时间对应的晶体，来校正所述位置信息，包括：

构建位置校正表，所述位置校正表包括所述若干编码区域内的若干子区域；及利用所述编码分割表和所述位置校正表校正所述位置信息；

所述利用所述编码分割表和所述位置校正表校正所述位置信息，包括：

比对所述子区域内的光子产生的电信号的信号衰减时间和所述子区域所在的编码区域和/或相邻编码区域对应的晶体的晶体衰减时间，确定所述信号衰减时间所符合的晶体衰减时间对应的编码区域，来校正所述位置信息。

2.如权利要求1所述的位置校正方法，其特征在于：所述构建编码分割表，包括：

根据若干光子的位置坐标，生成显示所述若干光子分布的二维位置散点图；及

根据所述二维位置散点图上的所述若干光子的分布重心，在所述二维位置散点图上分割出与所述晶体阵列的晶体数目相同且包含所述分布重心的若干区域，并对所述若干区域进行编码，获得所述编码分割表。

3.如权利要求2所述的位置校正方法，其特征在于：所述构建位置校正表，包括：

通过所述二维位置散点图上的所述若干光子的分布重心的连线，在所述二维位置散点图上分割出所述若干子区域，获得所述位置校正表。

4.一种位置校正系统，其特征在于：其包括：

晶体阵列，包括具有不同的晶体衰减时间的至少两种晶体，所述至少两种晶体在接收光子的接收面上间隔排列，用来接收光子并产生光信号；

光电转换器件，与所述晶体阵列连接，用来将所述光信号转换为电信号；

电信号处理单元，用来根据所述电信号确定所述光子入射至所述晶体阵列的位置信息和所述电信号的信号衰减时间；及

校正单元，比对所述信号衰减时间和所述晶体衰减时间，确定所述信号衰减时间所符合的所述晶体衰减时间对应的晶体，来校正所述位置信息；

所述电信号处理单元进一步用来：

构建编码分割表，所述编码分割表包括与所述晶体阵列的晶体相对应的若干编码区域；及利用所述编码分割表确定所述位置信息；

所述校正单元进一步用来：

构建位置校正表，所述位置校正表包括所述若干编码区域内的若干子区域；及利用所述编码分割表和所述位置校正表校正所述位置信息；

所述校正单元进一步用来比对所述子区域内的光子产生的电信号的信号衰减时间和所述子区域所在的编码区域和/或相邻编码区域对应的晶体的晶体衰减时间，确定所述信号衰减时间所符合的晶体衰减时间对应的编码区域，来校正所述位置信息。

5.如权利要求4所述的位置校正系统，其特征在于：所述电信号处理单元进一步用来：

根据若干光子的位置坐标，生成显示所述若干光子分布的二维位置散点图；及

根据所述二维位置散点图上的所述若干光子的分布重心，在所述二维位置散点图上分割出与所述晶体阵列的晶体数目相同且包含所述分布重心的若干区域，并对所述若干区域进行编码，获得所述编码分割表。

6.如权利要求5所述的位置校正系统，其特征在于：所述校正单元进一步用来通过所述二维位置散点图上的所述若干光子的分布重心的连线，在所述二维位置散点图上分割出所述若干子区域，获得所述位置校正表。