[发明专利]一种掩膜板及蒸镀设备有效

专利信息
申请号: 201710533788.6 申请日: 2017-07-03
公开(公告)号: CN107142451B 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: 孙中元;薛金祥 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: C23C14/04 分类号: C23C14/04;C23C14/24;C23C14/54
代理公司: 11243 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 许静;刘伟<国际申请>=<国际公布>=<
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 掩膜板 设备
【说明书】:

发明涉及成膜技术领域,公开了一种掩膜板及蒸镀设备。所述掩膜板包括图形区域,所述图形区域设置有镂空图形,在掩膜板的除镂空图形之外的区域设置膜厚测试片,在蒸镀制程中,膜厚测试片上会沉积蒸镀材料,通过检测所述膜厚测试片上薄膜的膜厚,可以获取掩膜板上薄膜的膜厚,从而当薄膜的膜厚达到一定的厚度时,能够及时更换掩膜板,避免出现薄膜剥离污染设备的问题。

技术领域

本发明涉及成膜技术领域,特别是涉及一种掩膜板及蒸镀设备。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,简称“OLED”),具有全固态结构、高亮度、全视角、响应速度快、工作温度范围宽、可实现柔性显示等一系列优点。尤其在柔性显示领域,其可以被卷曲、折叠,因此在便携产品或穿戴产品领域有着极为宽广的前景。

OLED器件的制作方法有真空蒸镀(Vacuum Evaporation)、激光热转印(LaserInduced Thermal Imaging,LITI)、喷墨打印(Ink Jet Print)等,目前真空蒸镀技术比较成熟,是各大厂商使用的主流技术。

OLED器件的蒸镀分为有机材料蒸镀和金属材料蒸镀,金属材料一般使用Mg、Ag、Al等。金属蒸镀的掩膜版包括图形区域和位于图形区域的周边区域,金属材料以掩膜板为阻挡,通过图形区域的镂空图形蒸镀到OLED器件上。蒸镀工序完成后,会将掩膜版搬送回至掩膜版存储腔室。

在蒸镀过程中,掩膜版上也会沉积金属材料,当掩膜板上的金属膜膜厚达到一定厚度时,就会发生剥离,导致产生大量颗粒,污染真空蒸镀设备。

发明内容

本发明提供一种掩膜板及蒸镀设备,用以解决在蒸镀过程中掩膜板上沉积的薄膜膜厚达到一定厚度时,会发生剥离,污染蒸镀设备的问题。

为解决上述技术问题,本发明提供一种掩膜板,包括板体,所述板体包括图形区域和位于所述图形区域外围的周边区域,所述图形区域设置有镂空图形,其特征在于,所述掩膜板还包括膜厚测试片,所述膜厚测试片对应所述板体的除所述镂空图形之外的区域设置。

如上所述的掩膜板,其中,所述膜厚测试片设置在所述周边区域。

如上所述的掩膜板,其中,所述掩膜板包括至少两个膜厚测试片,所述至少两个膜厚测试片均匀分布在所述图形区域的周边。

本发明实施例中还提供一种蒸镀设备,包括用于放置如上所述的掩膜板的存储腔,其中,还包括:

膜厚检测单元,用于测量所述掩膜板的膜厚测试片上的第一薄膜的膜厚。

如上所述的蒸镀设备,其中,所述蒸镀设备还包括:

报警单元;

控制单元,与所述膜厚检测单元和报警单元连接,当第一薄膜的膜厚达到预设厚度时,所述控制单元控制所述报警单元发出警报。

如上所述的蒸镀设备,其中,所述存储腔内设置有承载部,所述掩膜板固定放置在所述承载部上;

所述膜厚检测单元固定在所述承载部上,并与所述掩膜板的膜厚测试片的位置对应。

如上所述的蒸镀设备,其中,所述膜厚测试片上的第一薄膜的材料为金属,所述膜厚测试片的材料为绝缘材料;

所述膜厚检测单元包括:

固定在所述承载部上的第一驱动机构;

固定在所述第一驱动机构的输出端的方块电阻测试仪,所述方块电阻测试仪包括计算单元、本体和设置在所述本体上的至少一个探针,所述第一驱动机构用于驱动所述探针插入所述第一薄膜中;所述计算单元与所述探针连接,当所述探针插入所述第一薄膜中时,所述计算单元计算所述第一薄膜的方块电阻;

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