[发明专利]一种正侧位双能图像的拍摄系统及其拍摄方法有效
申请号: | 201710529125.7 | 申请日: | 2017-07-01 |
公开(公告)号: | CN107374658B | 公开(公告)日: | 2023-10-03 |
发明(设计)人: | 王凯;齐一泓;陈国枭 | 申请(专利权)人: | 广东顺德中山大学卡内基梅隆大学国际联合研究院;中山大学 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 林丽明 |
地址: | 528300 广东省佛山市顺德区大良*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 正侧位双能 图像 拍摄 系统 及其 方法 | ||
技术领域
本发明涉及医疗数字图像领域,更具体地,涉及一种正侧位双能图像的拍摄系统及其拍摄方法。
背景技术
目前,在医院所使用的常规X射线成像系统中,若要拍摄一组正侧位的图像需要使用拍摄装置进行两次曝光,其中还需要被拍摄者移动一次拍摄体位,这对行动不便或者身患重病的人来说十分不方便,甚至在移动位置时会增加他们身体的痛苦,除此之外,病患在移动的过程中,可能会因为位置的改变,从而影响图像结果的准确性,同时,也增加了放射医师的工作负担。
发明内容
本发明提供一种简化了拍摄过程的正侧位双能图像的拍摄系统。
本发明的又一目的在于提供该正侧位双能图像的拍摄系统的正侧位图像的拍摄方法及其去噪方法。
为了达到上述技术效果,本发明的技术方案如下:
一种正侧位双能图像的拍摄系统,包括拍摄平台、设置在拍摄平台上的环形轨道、设置在环形轨道中心区域的拍摄区域圆台、设置在环形轨道和拍摄区域圆台之间的环形旋转轴,以及可在环形轨道中移动的若干组拍摄装置;所述每一组拍摄装置包括一X射线源和一平板探测器,射线源和平板探测器在环形轨道的圆周上的位置的夹角是180°。
进一步地,所述X射线源由第一支承杆支撑在环形轨道上,第一支承杆可在环形轨道移动,第一支承杆通过第一支撑轴与环形旋转轴连接,从而让环形旋转轴带动第一支承杆在环形轨道作圆周运动;平板探测器由第二支承杆支撑在环形轨道上,第二支承杆可在环形轨道移动,第二支承杆通过第二支撑轴与环形旋转轴连接,从而让环形旋转轴带动第二支承杆在环形轨道作圆周运动。
进一步地,在X射线源和第一支承杆之间还设置有第一滑动杆,第一滑动杆在支承杆上自由上下移动以调整X射线源的高度;平板探测器和第二支承杆之间还设置有第二滑动杆,第二滑动杆在第二支承杆上自由上下移动以平板探测器的高度。
进一步地,所述拍摄装置的组数为2,第一组拍摄装置的X射线源与第二组拍摄装置的X射线源在环形轨道的圆周上的位置的夹角是90°
进一步地,所述环形轨道为一固定凹槽,第一支承杆和第二支承杆通过滑动部件设置在凹槽上。
一种正侧位双能图像的拍摄系统的正侧位图像的拍摄方法,包括高能级和低能级的正侧位图像的拍摄方法,所述高能级的正侧位图像的拍摄方法的过程包括以下步骤:
S11:使被拍摄对象正面正对任一组拍摄装置中X射线源;
S12:将两组拍摄装置中X射线源的管电压值调整至在77KV以下即两组X射线源均为低能级,同时启动两组拍摄装,采集到低能级的正位图像和侧位图像;
S13:将两组拍摄装置中X射线源的管电压值调整至在77KV以上即两组X射线源均为高能级,同时启动两组拍摄装,采集到高能级的正位图像和侧位图像;
所述低能级的正侧位图像的拍摄方法的过程包括以下步骤:
S21:将两组拍摄装置之间夹角调整为90°,使被拍摄对象正面正对任一组拍摄装置中X射线源;
S22:将两组拍摄装置中X射线源的管电压值调整至在77KV以下即两组X射线源均为低能级,同时启动两组拍摄装置,两个探测器同时采集到低能级的正位图像和侧位图像;
S23:将两组拍摄装置中X射线源的管电压值调整至在77KV以上即两组X射线源均为高能级,同时启动两组拍摄装置,两个探测器同时采集到高能级的正位图像和侧位图像。
一种正侧位双能图像的拍摄系统的正侧位图像的拍摄方法的去噪方法,包括以下步骤:
1)、不放置任何被拍摄对象,在D2表面放置一剂量仪以测量D2表面所接收到的剂量率,打开S1、D2,关闭S2、D1,改变两组拍摄装置之间的夹角,并在每个夹角下使用不同拍摄条件测得D2表面的剂量率,称为背景噪声;
其中D1为第一组拍摄装置中的X射线源,S1为第一组拍摄装置中的平板探测器,D2为第二组拍摄装置中的X射线源,S2为第二组拍摄装置中的平板探测器;
2)、放置被拍摄对象,在D2表面放置一剂量仪以测量D2表面所接收到的剂量率,打开S1、D2,关闭S2、D1,改变两组拍摄装置之间的夹角,并在每个夹角使下用不同拍摄条件测得D2表面的剂量率,称为散射噪声;
3)、使用步骤1)中的背景噪声和步骤2)中的散射噪声得到被拍摄对象的散射系数,具体可见公式(1):
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东顺德中山大学卡内基梅隆大学国际联合研究院;中山大学,未经广东顺德中山大学卡内基梅隆大学国际联合研究院;中山大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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