[发明专利]接触式测量测针球头半径精密补偿方法有效
申请号: | 201710522576.8 | 申请日: | 2017-06-30 |
公开(公告)号: | CN107238364B | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 陈珂;蒋伟 | 申请(专利权)人: | 四川大学 |
主分类号: | G01B21/10 | 分类号: | G01B21/10 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610065 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接触 测量 测针球头 半径 精密 补偿 方法 | ||
1.一种接触式测量测针球头半径精密补偿方法,该方法包括如下步骤:
(1)使用两个测针对同一目标点Ps进行测量,所述的两个测针分别为测针1和测针2,所述测针1的测针球头半径r1与所述测针2的测针球头半径r2不相等;
(2)利用所述测针1对目标点Ps进行第一次检测,获得所述测针1的检测值L1,L1为测针1的测针球心O1所在位置;
(3)利用所述测针2对目标点Ps进行第二次检测,获得所述测针2的检测值L2,L2为测针2的测针球心O2所在位置;
(4)基于所述测针1和测针2对同一目标点Ps两次检测值L1和L2,以及所述测针1和测针2的测针球头半径r1和r2,并在所述测针球头半径r1和r2不相等的基础上,计算出目标点Ps的位置值Ls,计算方法为:
2.根据权利要求1所述的一种接触式测量测针球头半径精密补偿方法,其特征在于:步骤(4)中所述计算方法还可以是:
3.根据权利要求1所述的一种接触式测量测针球头半径精密补偿方法,其特征在于:所述使用两个测针对同一目标点Ps进行测量,需保证在检测同一目标点Ps时,所述测针1和测针2的测针轴线矢量在待检测面的坐标系中相同;在此条件下,所述测针1和测针2在空间上可以布置于不同的检测位置。
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