[发明专利]接触式测量测针球头半径精密补偿方法有效

专利信息
申请号: 201710522576.8 申请日: 2017-06-30
公开(公告)号: CN107238364B 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 陈珂;蒋伟 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G01B21/10 分类号: G01B21/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610065 四川*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 接触 测量 测针球头 半径 精密 补偿 方法
【权利要求书】:

1.一种接触式测量测针球头半径精密补偿方法,该方法包括如下步骤:

(1)使用两个测针对同一目标点Ps进行测量,所述的两个测针分别为测针1和测针2,所述测针1的测针球头半径r1与所述测针2的测针球头半径r2不相等;

(2)利用所述测针1对目标点Ps进行第一次检测,获得所述测针1的检测值L1,L1为测针1的测针球心O1所在位置;

(3)利用所述测针2对目标点Ps进行第二次检测,获得所述测针2的检测值L2,L2为测针2的测针球心O2所在位置;

(4)基于所述测针1和测针2对同一目标点Ps两次检测值L1和L2,以及所述测针1和测针2的测针球头半径r1和r2,并在所述测针球头半径r1和r2不相等的基础上,计算出目标点Ps的位置值Ls,计算方法为:

2.根据权利要求1所述的一种接触式测量测针球头半径精密补偿方法,其特征在于:步骤(4)中所述计算方法还可以是:

3.根据权利要求1所述的一种接触式测量测针球头半径精密补偿方法,其特征在于:所述使用两个测针对同一目标点Ps进行测量,需保证在检测同一目标点Ps时,所述测针1和测针2的测针轴线矢量在待检测面的坐标系中相同;在此条件下,所述测针1和测针2在空间上可以布置于不同的检测位置。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于四川大学,未经四川大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710522576.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top