[发明专利]一种发光二极管的外延片及其制备方法有效
申请号: | 201710520370.1 | 申请日: | 2017-06-30 |
公开(公告)号: | CN107359228B | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 武艳萍 | 申请(专利权)人: | 华灿光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/12 | 分类号: | H01L33/12;H01L33/14;H01L33/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 430223 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 发光二极管 外延 及其 制备 方法 | ||
1.一种发光二极管的外延片,其特征在于,所述外延片包括衬底和依次层叠在所述衬底上的缓冲层、u型GaN层、n型GaN层、应力释放层、有源层和p型GaN层,其中,所述应力释放层包括交替层叠设置的多层InxGa(1-x)N层和多层n型AlyGa(1-y)N层,且所述多层InxGa(1-x)N层中的In的组分含量逐层增加,所述有源层包括交替层叠设置的多层InmGa(1-m)N阱层和多层GaN垒层,其中0<m<x<1,0<y<0.5,所述多层n型AlyGa(1-y)N层的Al的组分含量沿所述外延片的层叠方向变化。
2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述InxGa(1-x)N层的厚度大于所述n型AlyGa(1-y)N层的厚度。
3.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述InxGa(1-x)N层的厚度为30~100nm。
4.根据权利要求1或2所述的外延片,其特征在于,应力释放层的总厚度为300~500nm。
5.根据权利要求1或2所述的外延片,其特征在于,所述n型AlyGa(1-y)N层的掺杂浓度为1E19cm-3~1E20cm-3。
6.根据权利要求1或2所述的外延片,其特征在于,所述InxGa(1-x)N层和所述n型AlyGa(1-y)N层交替层叠的周期数为3~10。
7.一种发光二极管的外延片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:
提供一衬底;
在所述衬底上依次生长缓冲层、u型GaN层、n型GaN层、应力释放层、有源层和p型GaN层,其中,所述应力释放层包括交替层叠设置的多层InxGa(1-x)N层和多层n型AlyGa(1-y)N层,且所述多层InxGa(1-x)N层中的In的组分含量逐层增加,所述有源层包括交替层叠设置的多层InmGa(1-m)N阱层和多层GaN垒层,其中0<m<x<1,0<y<0.5,所述多层n型AlyGa(1-y)N层的Al的组分含量沿所述外延片的层叠方向变化。
8.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述应力释放层的生长温度为800℃~900℃。
9.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述应力释放层的生长压力为300~400mbar。
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