[发明专利]一种BMS的校准及测试方法在审
| 申请号： | 201710516550.2 | 申请日： | 2017-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN107688161A | 公开（公告）日： | 2018-02-13 |
| 发明（设计）人： | 郑庆芳 | 申请（专利权）人： | 惠州市蓝微新源技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司44245 | 代理人： | 蒋剑明 |
| 地址： | 516006 广东省惠州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 bms 校准 测试 方法 | ||
1.一种BMS的校准及测试方法，其特征在于，包括内、外总压校准步骤：
S11：将待测BMS产品(700)处于第一预设内、外总压条件下，读取当前第一预设内、外总压条件下待测BMS产品(700)的AD值VAD1和Real值VReal1；
S12：将待测BMS产品(700)处于第二预设内、外总压条件下，读取当前第二预设内、外总压条件下待测BMS产品(700)的AD值VAD2和Real值VReal2；
S13：计算电压增益值：
Gainv＝|VReal2-VReal1|*10000/|VAD2-VAD1|；
S14：计算电压偏置值：
Offsetv＝((VReal2*10000-VAD2*Gainv)+(VReal1*10000-VAD1*Gainv))/2；
S15：将电压增益值Gainv和电压偏置值Offsetv写入待测BMS产品(700)的存储器。
2.根据权利要求1所述的BMS的校准及测试方法，其特征在于，还包括
总电流校准步骤：
S21：将待测BMS产品(700)设置在第一预设电流条件下，读取当前第一预设电流条件下待测BMS产品(700)的AD值CAD1和Real值CReal1，；
S22：将待测BMS产品(700)设置在第二预设电流条件下，读取当前第二预设电流条件下待测BMS产品(700)的AD值CAD2和Real值CReal2；
S23：计算电流增益值：
Gainc＝|CReal2-CReal1|*1000000/|CAD2-CAD1|；
S24：将电流增益值Gainc写入待测BMS产品(700)的存储器。
3.根据权利要求2所述的BMS的校准及测试方法，其特征在于，还包括：
电压精度测试步骤：
S31：向待测BMS产品(700)输入若干组标准电压；
S32：依次测量若干组标准电压得到测量值，若任意一组标准电压与其对应的测量值的差值的绝对值大于2mv，测试不通过；否则，执行步骤S33；
S33：依次读取输入至待测BMS产品(700)的若干组标准电压得到读取值，若任意一组读取值与其对应的测量值的差值的绝对值小于5mv，测试通过；否则，测试不通过。
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