[发明专利]一种终端软件测试方法、待测终端及计算机可读存储介质在审
申请号: | 201710508976.3 | 申请日: | 2017-06-28 |
公开(公告)号: | CN107463491A | 公开(公告)日: | 2017-12-12 |
发明(设计)人: | 柏凤佳 | 申请(专利权)人: | 努比亚技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 | 代理人: | 江婷,李发兵 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 终端 软件 测试 方法 计算机 可读 存储 介质 | ||
技术领域
本发明涉及终端技术领域,更具体地说,涉及一种终端软件测试方法、待测终端及计算机可读存储介质。
背景技术
随着社会发展和科技进步,终端已经成为了人们生活及工作上的必不可少的工具。通过新增元器件以及在系统上集成新功能的方式,终端已经能够向用户提供越来越多契合用户需求的服务了。由于终端行业竞争的激烈程度不断提升,用户对终端的用户体验也要求越来越高。所以,终端使用过程中的稳定性、性能和内存等是影响用户体验的核心因素,受到了用户越来越多的关注。如何有效地保证终端的稳定性、性能和内存的健壮性,尽可能的提升终端的性能和流畅度,是提升用户体验的关键。
为了保证终端在用户的使用过程中能够具有更高的稳定性、更好的性能等,各大终端生产厂家在终端出厂进入市场之前,都会对终端进行反复测试。目前的测试思路主要是同时选用多台待测终端,然后控制这些待测终端在默认测试模式下不间断运行各个待测软件,直到检测出问题,默认测试模式通常是模拟用户正常使用的情况。应当理解的是,在用户正常使用情况下,出现问题的情况毕竟是少数,所以这种传统的测试方式需要耗费大量的测试时间。而且,因为很多终端问题在正常使用情况下不会暴露出来,而用户使用终端也并不只是在正常情况下,所以,传统测试方式的测试效果并不理想。
因此,现在亟需提供一种新的终端软件测试方案,用以解决现有测试方案中存在的测试时间长、测试效果不理想的问题。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于:解决现有终端软件测试方案中模拟用户通常的使用场景对终端进行测试,导致测试时间长、测试效果不理想,针对该技术问题,提供一种终端软件测试方法、待测终端及计算机可读存储介质。
为解决上述技术问题,本发明提供一种终端软件测试方法,所述终端软件测试方法包括:
为待测软件确定当前需要进入严格测试模式的客观属性参数,所述严格测试模式下的所述客观属性参数所表征的测试通过条件比所述默认测试模式下的客观属性参数所表征的测试通过条件严苛;
按照所述严格测试模式配置所述客观属性参数;
在所述严格测试模式下对待测终端上各待测软件的运行进行测试。
可选地,若确定当前需要进入严格测试模式的客观属性参数包括系统看门狗电路watchdog的任务超时等待时长,则所述按照所述严格测试模式配置所述客观属性参数包括:
在默认测试模式的基础上缩短任务超时等待时长以设置得到严格测试模式下的任务超时等待时长。
可选地,若确定当前需要进入严格测试模式的客观属性参数包括系统层的进程超时等待时长,则所述按照所述严格测试模式配置所述客观属性参数包括:
在默认测试模式的基础上缩短进程超时等待时长以设置得到严格测试模式下的进程超时等待时长。
可选地,所述待测软件包括定时任务功能时,所述客观属性参数包括定时任务的执行周期,所述按照所述严格测试模式配置所述客观属性参数包括:
在默认测试模式的基础上缩短定时任务的执行周期以设置得到严格测试模式下定时任务的执行周期。
可选地,若确定当前需要进入严格测试模式的客观属性参数包括所述待测终端的可用内存,则所述按照所述严格测试模式配置所述客观属性参数包括:
在默认测试模式的基础上减小所述待测终端的可用内存以设置得到严格测试模式下所述待测终端的可用内存。
可选地,所述在默认测试模式的基础上减小所述待测终端的可用内存以设置得到严格测试模式下所述待测终端的可用内存包括:
检测所述待测终端的实际剩余内存,并对检测结果进行缩减得到虚拟剩余内存;
将所述虚拟剩余内存设置成严格测试模式下的待测终端的可用内存。
可选地,所述在所述严格测试模式下对待测终端上各待测软件的运行进行测试之后,还包括:
根据测试结果确定所述待测终端上各待测软件通过当前的测试;
提升所述严格测试模式的严苛程度后对所述待测终端的待测软件进行复测。
可选地,针对所述客观属性参数为定时任务的执行周期的测试场景,所述在所述严格测试模式下对待测终端上各待测软件的运行进行测试之后,还包括:
根据测试结果确定所述待测终端上各待测软件未通过当前的测试;
将前一次测试中设置的执行周期设置成所述待测终端定时任务的默认执行周期,以避免所述待测终端在执行定时任务时影响系统正常运行。
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