[发明专利]存储器掉电时间段定位方法及系统掉电保护方法

说明书

本发明公开了一种存储器掉电时间段定位方法，包括：以第一时间段为步长，对指令过程进行逐步掉电测试，定位出所述指令过程中在存储器中编程的编程时间段；逐次在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器的掉电时间段，在各次定位中，下一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长小于上一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长，下一次逐步掉电测试在上一次逐步掉电测试所定位出的掉电时间段中进行。对指令过程进行逐次定位，在各次定位中依次减小掉电测试的测试步长时间段，来逐次定位出存储器编程过程中掉电时间段，能够实现对存储器掉电时间段的准确定位。本发明还公开一种采用上述存储器掉电时间段定位方法的系统掉电保护方法。

技术领域

本发明涉及掉电测试技术领域，特别是涉及一种存储器掉电时间段定位方法。本发明还涉及一种系统掉电保护方法。

背景技术

现有技术中，对系统中存储器进行掉电时间段的定位测试中，对整条指令过程进行掉电测试，如果测试时间步长设置过小，会导致整个掉电测试所消耗的时间过长，而测试时间步长设置较大，又会降低存储器掉电时间段的命中率。

因此，如何能实现对存储器掉电时间段的快速准确定位，克服现有技术存在的缺点，就成为本领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种存储器掉电时间段定位方法，能够实现对存储器掉电时间段的准确定位。本发明还提供一种系统掉电保护方法。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种存储器掉电时间段定位方法，包括：

以第一时间段为步长，对指令过程进行逐步掉电测试，定位出所述指令过程中在存储器中编程的编程时间段；

逐次在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器的掉电时间段，在各次定位中，下一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长小于上一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长，下一次逐步掉电测试在上一次逐步掉电测试所定位出的掉电时间段中进行。

可选地，所述以第一时间段为步长，对指令过程进行逐步掉电测试，定位出所述指令过程中在存储器中编程的编程时间段包括：

逐步读取在指令过程中所述存储器存储区域内的值，将所述存储器存储区域内的值为被修改值的时间段以及为其它值的时间段，确定为所述编程时间段，其它值指区别于未修改值和被修改值的值。

可选地，进行逐步掉电测试包括：

卡片上电，并接收所述存储器发送的用于读取存储器存储区域内的值的读取指令，在经过预设时间段后卡片掉电；

卡片再次上电，读取到所述存储器存储区域内的值。

可选地，在所述读取到所述存储器存储区域内的值之后还包括：

判断所读取出的值是否为未修改值、被修改值或者其它值，其它值指区别于未修改值和被修改值的值；

若所读取出的值为未修改值，表明掉电时间点未到达所述存储器的编程过程；

若所读取出的值为被修改值，表明掉电时间点在所述存储器的编程过程之后；

若所读取出的值为其它值，表明掉电时间点处于所述存储器的编程过程中。

可选地，所述逐次在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器的掉电时间段包括：

以第二时间段为步长，在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器存储区域内的值为其它值的时间段，其它值指区别于未修改值和被修改值的值；

以第三时间段为步长，在所定位出的所述存储器存储区域内的值为其它值的时间段中进行逐步掉电测试，定位出掉电时间段；