[发明专利]一种可切换滤光片的准直装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种可切换滤光片的准直装置，属于元素分析设备技术领域。

背景技术

任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成，原子核外电子按其能量的高低分层分布而形成不同的能级，因此，一个原子核可以具有多种能级状态。能量最低的能级状态称为基态能级，其余能级称为激发态能级，能量最低的激发态则称为第一激发态。正常情况下，原子处于基态，核外电子在各自能量最低的轨道上运动。如果将一定外界能量如光能提供给该基态原子，当外界光能量E恰好等于该基态原子中基态和某一较高能级之间的能级差△E时，该原子将吸收这一特征波长的光，外层电子由基态跃迁到相应的激发态，形成原子吸收光谱。电子跃迁到较高能级以后处于激发态，但激发态电子是不稳定的，经过一较短时间后，激发态电子将返回基态或其它较低能级，并将电子跃迁时所吸收的能量以光的形式释放出去，这个过程形成原子发射光谱。可见原子吸收光谱过程吸收辐射能量，而原子发射光谱过程则释放辐射能量。X-射线荧光光谱分析仪的分析原理是：光源发射出原级X-射线，该射线照射样品，待测元素的原子吸收相应的能量形成激发态，外层电子向低能级电子层跃迁，同时发射出次级X-射线，即X-射线荧光，以释放能量，通过探测器检测X-射线荧光的强度，进而求得待测元素的含量。

进行X射线荧光光谱分析时，在分析不同的元素时，需要更换滤光片，而现有的X射线荧光光谱分析仪难以切换滤光片。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：为解决X射线荧光光谱分析仪中滤光片难以切换的技术问题，提供一种方便切换滤光片的可切换滤光片的准直装置。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

本发明提供一种可切换滤光片的准直装置，包括：

电机；

导轨；

准直块，设置导轨上；

准直块上设置有若干竖直布置的准直孔，准直孔底部为滤光片安装孔，准直块能够在直线电机的驱动下沿导轨运动。

优选地，本发明的可切换滤光片的准直装置，准直孔(4512)孔径为0.1mm-2mm之间的任意值。

优选地，本发明的可切换滤光片的准直装置，准直孔(4512)为成一列排布的若干个。

优选地，本发明的可切换滤光片的准直装置，准直孔(4512)为7个，孔径分别为0.1mm、0.2mm、0.2mm、0.5mm、0.5mm、1mm、1mm、2mm、2mm。

优选地，本发明的可切换滤光片的准直装置，相邻两个准直孔(4512)之间的距离为6-12mm。

优选地，本发明的可切换滤光片的准直装置，电机为直线电机。

优选地，本发明的可切换滤光片的准直装置，导轨一侧还设置有前挡块与后挡块，用于限制准直块的运动行程。

本发明的有益效果是：

本发明的可切换滤光片的准直装置，准直块能够在电机的驱动下，使不同的准直孔位于X射线源与检测孔之间，也即通过调节准直块的位置就可以使用不同的滤光片，X射线源发出的X射线能够通过准直孔照射到位于样品台上样品。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是具有本发明实施例的可切换滤光片的准直装置的检测仓和样品台的立体视图；

图2是具有本发明实施例的可切换滤光片的准直装置的检测仓的立体视图；

图3是具有本发明实施例的可切换滤光片的准直装置的检测仓和样品台的侧视图；

图4是本发明实施例的可切换滤光片的准直装置的立体视图；

图5是本发明实施例的准直块的顶部的立体视图；

图6是本发明实施例的准直块的底部的立体视图。

图中的附图标记为：

40-检测仓；401-观察窗；41-样品台；411-样品检测孔；42-X射线源；43-摄像头；44-探测器；45-准直部件；451-准直块；452-直线电机；453-前挡块；454-后挡块；4512-准直孔；4513-滤光片安装孔。

具体实施方式

现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。

实施例

本实施例提供一种可切换滤光片的准直装置，如图4所示，包括：