[发明专利]一种光模块灵敏度测试方法和系统

说明书

本发明提供了一种光模块灵敏度测试方法和系统，发送伪随机二进制序列给待测试的光模块的各通道，接收光模块各通道反馈的电信号，电信号为光模块各通道中的光信号经过伪随机二进制序列调制后，通过光衰减器衰减后返回光模块，在经过光模块进行转换后所得；调节光衰减器的衰减率并检测电信号的误码率，当光衰减器的衰减率最大且电信号的误码率为零时，光信号反馈光模块的入光功率即为相应通道的灵敏度，再通过该灵敏度得到光模块的总灵敏度。通过本发明的实施，以伪随机二进制序列的方式来进行光模块的灵敏度的检测，节约了用100G业务表进行测试的成本，而且避免了插拔所带来的差损。

技术领域

本发明涉及通讯技术领域，尤其涉及一种光模块灵敏度测试方法和系统。

背景技术

客户侧CFP(外形封装可插拔)光模块一般包括10×10G的100G光模块以及4×25G的100G光模块。通常，CFP光模块的灵敏度使用100G业务表来测试。测试环境如图1所示，具体测试步骤为：通过调节光衰减器来调节进入光模块收端的光功率，当调整到一个临界点，使得该光模块在该衰减下在业务表上1分钟无误码时，此时进入光模块接收端的总光功率值即为该光模块的总灵敏度。

传统的测试方法会占用大量的100G业务表，大大加大了测试成本，而且需要经常来回插拔光纤，读取光功率，这样也会引入不必要的差损。

发明内容

本发明实施例提供了一种光模块灵敏度测试方法和系统，旨在解决现有技术中光模块灵敏度测试成本高昂，差损多的问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种光模块灵敏度测试方法，包括：

发送伪随机二进制序列给待测试的光模块的各通道；

接收所述光模块各通道反馈的电信号，所述电信号为所述光模块各通道中的光信号经过所述伪随机二进制序列调制后，并通过光衰减器衰减后返回所述光模块，再经过所述光模块转换所得；

调节所述光衰减器的衰减率并检测所述电信号的误码率，得到所述光模块中相应通道的灵敏度；所述光模块中相应通道的灵敏度为，所述光衰减器的衰减率最大且所述电信号的误码率为零时，所述光信号返回所述光模块的入光功率；

根据所述光模块中相应通道的灵敏度，得到光模块的总灵敏度。

此外，本发明实施例还提供一种光模块灵敏度测试系统，包括测试板，待测试的光模块，光衰减器以及控制器；所述测试板发送伪随机二进制序列给所述光模块的各通道，所述光模块各通道中的光信号经过所述伪随机二进制序列调制后，通过所述光衰减器衰减后返回所述光模块，转换为电信号后反馈给所述测试板；所述控制器调节所述光衰减器的衰减率，所述测试板检测所述电信号的误码率，当所述光衰减器的衰减率最大且所述电信号的误码率为零时，得到所述光模块中相应通道的灵敏度；根据所述光模块中相应通道的灵敏度，得到光模块的总灵敏度。

本发明的有益效果是：

本发明提供了一种光模块灵敏度测试方法和系统，发送伪随机二进制序列给待测试的光模块的各通道，接收光模块各通道反馈的电信号，电信号为光模块各通道中的光信号经过伪随机二进制序列调制后，通过光衰减器衰减后返回光模块，在经过光模块进行转换后所得；调节光衰减器的衰减率并检测电信号的误码率，当光衰减器的衰减率最大且电信号的误码率为零时，光信号反馈光模块的入光功率即为相应通道的灵敏度，再通过该灵敏度得到光模块的总灵敏度。通过本发明的实施，以伪随机二进制序列的方式来进行光模块的灵敏度的检测，节约了用100G业务表进行测试的成本，而且避免了插拔所带来的差损。

附图说明

图1为现有技术中光模块灵敏度测试方式示意图；

图2为本发明第一实施例提供的一种光模块灵敏度测试方法流程图；

图3为本发明第二实施例提供的一种光模块灵敏度测试系统组成示意图；