[发明专利]一种基于热像素的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法

权利要求书

1.一种基于热像素的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法，其特征在于按下列步骤进行：

a、对电荷耦合器件在轨暗场测试采集到的其中任一幅图进行计算，得到该幅图的背景信号S_BG和图像饱和信号S_max；

b、统计该幅图中信号灰度值介于2S_BG和S_max之间的热像素信号个数N；

c、对于单个热像素信号计算其最亮像素的灰度值S_hotpixel；

d、统计单个热像素拖尾信号所占的像素个数n；

e、计算单个热像素所有拖尾像素的灰度值之和SUM_trail；

f、计算单个热像素信号转移到输出端的转移次数N_transfer；

g、根据该幅图的背景信号S_BG、图像饱和信号S_max、最亮像素的灰度值S_hotpixel、拖尾信号所占的像素个数n、拖尾像素的灰度值之和SUM_trail和转移次数N_transfer计算单个热像素的电荷转移损失率CTI_i，然后求出基于单个热像素的电荷耦合器件的单次电荷转移效率CTE_i；

h、计算所求出的N个单次电荷转移效率的均值CTE_average，即为在轨电荷耦合器件的电荷转移效率。

2.如权利要求1所述的一种基于热像素的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法，其特征在于步骤d中单个热像素拖尾信号所占的像素个数是从单个热像素最亮像素后的第一个像素开始计数，往读出电路方向直到像素的灰度值和背景信号灰度值相当时停止计数。