[发明专利]一种间歇寿命试验系统和方法

说明书

本发明公开了一种间歇寿命试验系统和方法，涉及产品可靠性试验领域。该试验系统包括：输入模块、控制器模块、显示模块和继电器输出模块；控制器模块与继电器输出模块连接，用于根据输入模块获取的用户输入设置试验参数，并根据试验参数发出中断信号；继电器输出模块与试验电源连接，用于向试验电源输出中断信号，以控制试验电源的通断。相应的试验方法包括：获取用户输入以设置试验参数；根据用户选择的所述试验参数执行试验并产生中断信号；通过所述中断信号控制试验电源的通断；显示所述试验参数。本发明能够按照试验需要灵活设置试验流程，对时间的控制精确度高，可直观的看到试验状态，并且系统稳定性强，可兼容多种产品的实验，成本较低。

技术领域

本发明涉及产品可靠性试验技术领域，尤其涉及一种间歇寿命试验系统和方法。

背景技术

间歇寿命试验是对电路间断地施加应力，使器件受到“开”和“关”之间的电应力周期变化，来加速电路内部物理、化学反应过程，而这种周期变化的电应力又导致器件和外壳温度的周期变化，最终得到测定微电子器件的典型失效率或者证实器件的质量或可靠性。GJB360、GJB548对现行电子元器件及微电子器件的间歇寿命试验都有明确的规定。间歇寿命试验的方法是在试验器件和电源之间串联一个“时间开关”来有规律的间断地给试验器件施加应力从而达到试验的目的。

现行的间歇寿命试验系统可以通过继电器搭建，这样的硬件系统存在几大问题：对于间歇寿命试验而言，时间的有效积累性是第一要素，由于硬件继电器或电容的充放电控制的时间精度问题，长时间使用后，时间误差严重。对于多段的通断电逻辑，利用硬件继电器搭建的实验系统通用性差；且试验中断后，若需要从中间某段试验开始执行也十分不便；通过时间继电器实现一定循环次数的试验较困难；若试验中调整试验方案，硬件电路需要重新搭建。另一种方式是通过可编程电源控制，但可编程电源存在成本高、电压电流范围固定、使用稳定性及便利性不足等问题。试验中，若试验条件改变时，需要重新编程，对于普通试验操作人员来说并不方便。

发明内容

本发明的目的在于提出一种间歇寿命试验系统和方法，能够对电子元器件进行间歇寿命试验，试验的时间精度高、硬件成本低。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一方面，本发明提供一种间歇寿命试验系统，包括：输入模块、控制器模块、显示模块和继电器输出模块；

所述输入模块与所述控制器模块连接，用于获取用户输入；

所述控制器模块与所述继电器输出模块连接，用于根据所述用户输入设置试验参数，并根据所述试验参数发出中断信号；

所述继电器输出模块与试验电源连接，用于向所述试验电源输出所述中断信号，以控制所述试验电源的通断；

所述显示模块与所述控制器模块连接，用于显示所述试验参数。

其中，所述继电器输出模块包括：NPN型三极管和继电器；

所述NPN型三极管的基极通过电阻与所述控制器模块连接，集电极与所述继电器的线圈连接，所述NPN型三极管用于根据所述控制器模块输出的所述中断信号实现通断，以控制所述继电器的通断；

所述继电器的触点与试验电源连接，用于控制所述试验电源的通断。

进一步的，所述继电器输出模块还包括：开关二极管；

所述开关二极管的正极与所述NPN型三极管的集电极连接，负极分别连接所述继电器的线圈的一端和工作电源。

其中，所述控制器模块为8051系列单片机；所述输入模块为键盘。

其中，所述试验参数包括：总段数、当前段号、当前段号的通断电状态、当前段号的循环次数和当前段号的通断电时间。