[发明专利]太阳能硅片数量检测系统

说明书

技术领域

本发明涉及太阳能硅片生产技术领域，特别是一种太阳能硅片数量检测系统。

背景技术

硅片是太阳能电池片的载体，硅片质量的好坏直接决定了太阳能电池片转换效率的高低，因此需要对来料硅片进行检测。该工序主要用来对硅片的一些技术参数进行在线测量，这些参数主要包括硅片表面不平整度、少子寿命、电阻率、P/N型和微裂纹等。该组设备分自动上下料、硅片传输、系统整合部分和四个检测模块。其中，光伏硅片检测仪对硅片表面不平整度进行检测,同时检测硅片的尺寸和对角线等外观参数；微裂纹检测模块用来检测硅片的内部微裂纹；另外还有两个检测模组，其中一个在线测试模组主要测试硅片体电阻率和硅片类型，另一个模块用于检测硅片的少子寿命。在进行少子寿命和电阻率检测之前，需要先对硅片的对角线、微裂纹进行检测，并自动剔除破损硅片。硅片检测设备能够自动装片和卸片，并且能够将不合格品放到固定位置，从而提高检测精度和效率。

发明内容

本发明需要解决的技术问题是提供一种精确度高的太阳能硅片数量检测系统。

为解决上述的技术问题，本发明的太阳能硅片数量检测系统，包括计数器，所述计数器与A/D转换器输入端相连接，所述A/D转换器输出端与下位机输入端相连接，所述下位机输出端与光电耦合单元输入端相连接，所述光电耦合单元输出端通过电磁阀与挡片相连接。

进一步的，所述计数器为两个。

更进一步的，所述计数器与A/D转换器之间设置有检测保护单元。

更进一步的，所述检测单元包括电压比较器LM293，所述其中一个计数器通过电阻R4和电容C3的串联电路接地，电阻R4和电容C3的中间连接点与电压比较器LM293的2号管脚相连接，电源V1通过电阻R2和电阻R3的串联电路接地，电阻R2和电阻R3中间连接点与电压比较器LM293的3号和5号管脚相连接，所述电阻R3两端并联电容C2；另外一个计数器通过电阻R1和电容C1的串联电路接地，电阻R1和电容C1的中间连接点与电压比较器LM293的6号管脚相连接，所述电压比较器LM293的1号和7号管脚与A/D转换器输入端相连接。

进一步的，所述下位机通过RS232接口与上位机相连接。

采用上述结构后，本发明通过设置两个计数器，可以将数据进行对比，另外通过检测保护单元可以很好的保护计数器，提高了太阳能硅片数量检测的精度。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

图1为本发明太阳能硅片数量检测系统的结构框图。

图2为本发明检测保护单元的电路原理图。

图中：1为计数器，2为检测保护单元，3为A/D转换器，4为下位机，5为光电耦合单元，6为电磁阀，7为挡片，8为RS232接口，9为上位机

具体实施方式

如图1所示，本发明的太阳能硅片数量检测系统，包括计数器1，所述计数器1与A/D转换器3输入端相连接，所述A/D转换器3输出端与下位机4输入端相连接，所述下位机4输出端与光电耦合单元5输入端相连接，所述光电耦合单元5输出端通过电磁阀6与挡片7相连接。

进一步的，为了提高硅片计数的准确性和精度，所述计数器1为两个，这样可以将两个计数器1采集的数据进行对比，如果两个计数器采集到的数据相差较大，说明有计数器不能正常工作，需要更换使用。

更进一步的，为了更好的保护计数器，所述计数器1与A/D转换器3之间设置有检测保护单元2。如图2所示，所述检测单元包括电压比较器LM293，所述其中一个计数器通过电阻R4和电容C3的串联电路接地，电阻R4和电容C3的中间连接点与电压比较器LM293的2号管脚相连接，电源V1通过电阻R2和电阻R3的串联电路接地，电阻R2和电阻R3中间连接点与电压比较器LM293的3号和5号管脚相连接，所述电阻R3两端并联电容C2；另外一个计数器通过电阻R1和电容C1的串联电路接地，电阻R1和电容C1的中间连接点与电压比较器LM293的6号管脚相连接，所述电压比较器LM293的1号和7号管脚与A/D转换器输入端相连接。所述电压比较器LM293的1号和7号管脚通过电容C5接地，所述电压比较器LM293的1号和7号管脚通过电阻R5与电源V1相连接，电源V1为5V。其中，In1和In2为计数器检测到的测试信号。当下位机检测到硅片数量计数不正确时，则产生保护信号，断开电磁阀，使得挡片停止放行。

进一步的，为了上传和保存硅片检测数据，所述下位机4通过RS232接口8与上位机9相连接。

虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域熟练技术人员应当理解，这些仅是举例说明，可以对本实施方式作出多种变更或修改，而不背离发明的原理和实质，本发明的保护范围仅由所附权利要求书限定。