[发明专利]组选择电路和列读出设备及其方法

说明书

一种组选择电路包括：输入块，其适用于接收前一列开关组的最后列选择信号和当前列开关组的最后列选择信号；以及组选择块，其适用于响应于输入块的输出信号，产生从前一列开关组的最后列选择信号的第一边沿到当前列开关组的最后列选择信号的第一边沿被激活的组选择信号。

相关申请的交叉引用

本申请要求2016年6月27日提交的申请号为10-2016-0079979的韩国专利申请的优先权，其通过引用整体合并于此。

技术领域

本发明的各种实施例涉及一种具有列并行结构的设备(诸如互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器)，更具体地，涉及一种用于防止易于在高速读出操作期间发生的感测错误的组选择电路、采用组选择电路的列读出设备及其方法。

背景技术

在具有列并行结构的电路(诸如CMOS图像传感器)中，列数的增加导致用于选择要读出的列的列开关数量的增加，因此导致列读出感测节点的寄生电容。寄生电容的增加在列读出操作期间延迟感测电压的形成并且降低读出速度。为了减少列读出感测节点的寄生电容，列开关被分组成多个组，并且为列开关组中的每个提供组选择开关以选择对应的列开关组。

然而，根据通常用于选择组的二进制控制组选择方案，由于在组选择信号和列选择信号之间的时序失配，感测错误可以发生在列开关组中的第一列中。此外，在操作对应的组选择开关之前列读出感测节点的浮置也可以在感测列开关组中的第一列时引起错误信号。

发明内容

本发明的各种实施例涉及一种改进的组选择电路，其能够防止由组选择信号和列选择信号之间的时序失配引起的感测错误。组选择电路可以基于列选择信号来产生组选择信号。

另外的实施例涉及一种采用组选择电路的列读出设备及其读出具有列并行结构的设备(诸如CMOS图像传感器)的列的方法。

此外，各种实施例涉及一种读出列的设备及方法，其通过在选择组选择开关之前初始化列开关组节点，能够减少在选择列开关组时由于感测节点的浮置而可能发生的读取错误。

根据本发明的实施例，组选择电路可以包括：输入块，其适用于接收前一列开关组的最后列选择信号和当前列开关组的最后列选择信号；以及组选择块，其适用于响应于输入块的输出信号，产生从前一列开关组的最后列选择信号的第一边沿到当前列开关组的最后列选择信号的第一边沿被激活的组选择信号。

根据本发明的实施例，列读出设备可以包括：多个组选择电路，其适用于响应于前一列开关组的最后列选择信号和当前列开关组的最后列选择信号来产生组选择信号；多个组选择开关，其适用于响应于组选择信号来选择多个列开关组中的一个；以及多个列开关组，每个列开关组具有多个列开关，所述多个列开关适用于在被多个组选择开关之中的对应组选择开关选中的状态下，响应于列选择信号针对相应列线选择输入数据中的一个，以通过对应的列开关组节点将选中的输入数据传送到列读出感测节点。

列读出设备还可以包括多个初始化开关，其适用于在多个列开关组之中选择列开关组之前初始化对应的列开关组节点。

根据本发明的实施例，列读出方法可以包括响应于前一列开关组的最后列选择信号的第一边沿来激活当前组选择开关；以及响应于在当前列开关组的最后列选择信号的第一边沿处来去激活当前组选择开关。

列读出方法还可以包括初始化连接到列开关组的每个的输出端子的列开关组节点。

根据实施例，可以通过基于列选择信号产生组选择信号来防止由组选择信号和列选择信号之间的时序失配引起的感测错误。

根据实施例，通过在选择组选择开关之前初始化列开关组节点，可以减少在选择列开关组时由于列读出感测节点的浮置而可能发生的读取错误。

此外，根据实施例，可以在列数据感测操作期间提高读出速度。

附图说明