[发明专利]一种SAR型ADC的高精度校准装置

权利要求书

1.一种SAR型ADC的高精度校准装置，其特征在于，包括比较器（1），比较器（1）的负向输入端依次连接有高位电容阵列（6）、桥接电容（4）和低位电容阵列（5）；高位电容阵列（6）与高位和偏移误差校准模块（3）连接，低位电容阵列（5）与低位和桥接电容校准模块（2）连接；高位电容阵列（6）和低位电容阵列（5）通过开关阵列（7）控制与数字控制逻辑（19）的导通；其中开关阵列（7）通过refp/refn方式连接；

所述高位和偏移误差校准模块（3）包括第一增益电容（8）、偏移误差校准（9）以及多个高位电容校准，偏移误差校准（9）与多个高位电容校准并联，第一增益电容（8）与偏移误差校准（9）连接；

所述多个高位电容校准包括与偏移误差校准（9）并列设置的高位C电容校准（10）、高位2C电容校准（11）、高位4C电容校准（12）、高位8C电容校准（13）和高位16C电容校准（14）；所述低位和桥接电容校准模块（2）包括第二增益电容（17）和低位校准单元（18），第二增益电容（17）与低位校准单元（18）连接，所述偏移误差校准（9）、高位C电容校准（10）、高位2C电容校准（11）和高位4C电容校准（12）的结构为第一校准构型（15），第一校准构型（15）包括多个并列设置的电容，所述高位8C电容校准（13）和高位16C电容校准（14）的结构为第二校准构型（16），第二校准构型（16）比第一校准构型（15）多一个并联电容，所述低位校准单元（18）包括多个电容并联结构，多个电容并联结构与第二增益电容（17）顺序连接；靠近第二增益电容（17）的第一个电容并联结构为1个电容，电容并联结构的电容数量从第一个电容并联结构开始递增1个电容；校准的顺序为：首先加入偏移误差校准（9），然后加入低位和桥接电容校准模块（2），最后加入高位和偏移误差校准模块（3）。