[发明专利]一种硬盘质量筛选方法及装置

说明书

本发明公开了一种硬盘质量筛选方法及装置，该方法包括：检测硬盘的SMART属性是否正常；若是，则在第一预设时间内按预设规则读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；若未出现错误，则检测硬盘的SMART属性是否正常；若硬盘的SMART属性正常，则硬盘的质量无问题；本发明通过在第一预设时间内按预设规则读和写硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误，可以判断硬盘在用户使用过程中是否会出现错误，从而达到对硬盘质量的判断；通过若未出现错误，则检测硬盘的SMART属性是否正常，可以在对硬盘进行使用后判断硬盘的质量是否无问题，从而可以对问题硬盘进行淘汰，保证了硬盘的品质，增强了数据存储稳定性，节省了运营成本。

技术领域

本发明涉及计算机应用技术领域，特别涉及一种硬盘质量筛选方法及装置。

背景技术

随着社会的进步和信息通信技术的发展，信息系统在各行业、各领域快速拓展，使得信息系统采集、处理、积累的数据越来越多，数据量增速越来越快，以至用“海量、爆炸性增长”等词汇已无法形容数据的增长速度，大数据时代已经来临，硬盘的稳定性显得愈发重要。

现有技术中，由于硬盘厂家提供的硬盘质量的不确定性，用户通常情况往往在使用过程中业务读写文件异常时才会发现问题硬盘，影响业务稳定性。因此，如何可以提前对所有硬盘进行测试筛选，将不符合条件的硬盘淘汰，保证硬盘的品质，增强数据存储稳定性，节省运营成本，是现今急需解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种硬盘质量筛选方法及装置，以提前对所有硬盘进行测试筛选，将不符合条件的硬盘淘汰，保证硬盘的品质，增强数据存储稳定性，节省运营成本。

为解决上述技术问题，本发明提供一种硬盘质量筛选方法，包括：

检测硬盘的SMART属性是否正常；

若是，则在第一预设时间内按预设规则读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；

若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；

若所述硬盘的SMART属性正常，则所述硬盘的质量无问题。

可选的，所述在第一预设时间内按预设规则读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误，包括：

在所述第一预设时间内随机读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；

若未出现错误，则执行所述检测所述硬盘的SMART属性是否正常的步骤。

可选的，所述在所述第一预设时间内随机读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误之前，还包括：

在第二预设时间内顺序读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误；

若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；

若所述硬盘的SMART属性正常，则执行所述在所述第一预设时间内随机读和写所述硬盘的内圈和外圈，判断是否出现错误的步骤。

可选的，所述硬盘的质量无问题之前，还包括：

对所述硬盘发送SCSI VERIFY命令，判断是否出现错误；

若未出现错误，则检测所述硬盘的SMART属性是否正常；

若所述硬盘的SMART属性正常，则所述硬盘的质量无问题。

可选的，所述检测硬盘的SMART属性是否正常之前，还包括：

遍历查找所有硬盘；

依次对每个硬盘执行所述检测硬盘的SMART属性是否正常的步骤。

此外，本发明还提供了一种硬盘质量筛选装置，包括：