[发明专利]一种测量折射率的设备及方法

权利要求书

1.一种测量折射率的设备，其特征在于，包括：

光束入射装置，用于发出垂直入射到岩石薄片表面的第一光束和第二光束，其中，所述第一光束和所述第二光束为相干光束，所述第二光束穿过所述岩石薄片中的目标矿物以得到第三光束；

光束处理装置，用于对所述第一光束和所述第三光束叠加并滤波后输出目标光束；

样品台，设置于所述光束入射装置和所述光束处理装置之间，用于放置所述岩石薄片；

数据处理装置，其与所述光束处理装置连接，用于检测所述目标光束并根据所述目标光束计算所述目标矿物的折射率。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述光束入射装置包括：

光源，用于发出入射光束；

第一光纤耦合器，用于将所述入射光束分路为所述第一光束和所述第二光束。

3.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，所述光束处理装置包括：

第二光纤耦合器，用于将所述第一光束和所述第三光束叠加以产生干涉并获得叠加光束；

差分电路，其与所述数据处理装置连接，用于对所述叠加光束进行差分和滤波处理并输出所述目标光束。

4.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，所述数据处理装置包括：

检测器，其与所述差分电路相连，用于检测所述目标光束并生成目标光束信号；

图像处理单元，与所述检测器相连，用于接收所述检测器发送的所述目标光束信号，并根据所述目标光束信号计算所述目标矿物的折射率。

5.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述光束入射装置还包括：

偏振片，其设置于所述光源和所述第一光纤耦合器之间，用于将所述入射光束转变为偏振光束。

6.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述光源为激光器或氙灯。

7.一种利用如权利要求1至6中任一项所述的设备测量折射率的方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤1、在所述岩石薄片中确定所述目标矿物和参考区，其中所述参考区不包括所述目标矿物；

步骤2、所述光束入射装置向所述岩石薄片的表面垂直发出所述第一光束和所述第二光束，所述第一光束和所述第二光束为相干光束，所述第一光束穿过所述参考区，所述第二光束穿过所述目标矿物后得到所述第三光束；

步骤3、所述光束处理装置对所述第一光束和所述第三光束进行叠加并滤波以获得目标光束；

步骤4、所述数据处理装置检测所述目标光束并根据所述目标光束计算所述目标矿物的折射率。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述步骤3包括：

步骤31、对所述第一光束和所述第三光束进行叠加，得到叠加光束；

步骤32、对所述叠加光束进行差分和滤波处理，输出所述目标光束。

9.根据权利要求7或8所述的方法，其特征在于，在步骤2之前，所述方法还包括：

所述数据处理装置确定测试参数，其中，所述测试参数包括扫描时间、物镜光斑大小等。

10.根据权利要求7或8所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标光束计算所述目标矿物的折射率，包括：

所述数字处理装置通过图像分析或傅里叶变换计算所述目标矿物的折射率。