[发明专利]一种位移传感器结构及测试方法

权利要求书

1.一种位移传感器结构，其特征在于，包括：

由头部和圆轴构成的位移传感器，所述头部呈等差式结构形状，置于固定部件和运动部件之间，所述圆轴通过安装座固定在固定部件上，并穿过一端安装在安装座中的测量嘴，且采用锁紧头套锁紧；

锁紧环，与测量嘴另一端配合使用，用于锁紧所述移传感器的圆轴；

置于测量嘴和锁紧头套之间的弹簧，用于给传感器圆轴施加远离运动部件的力，使位移传感器能够复位；

螺旋测微机构，通过锁紧头套施加给位移传感器推力，并记录位移传感器位置。

2.根据权利要求1所述的一种位移传感器结构，其特征在于，所述位移传感器头部的形状可以为齿条式、台阶式或阵列式。

3.根据权利要求1所述的一种位移传感器结构，其特征在于，所述安装座的中间带有螺纹内孔，通过焊接或其他方式固定在被测间隙的固定部件上，用于固定位移传感器后部的圆轴。

4.根据权利要求1所述的一种位移传感器结构，其特征在于，所述测量嘴由一空心圆柱体和一圆盘组成，所述空心圆柱体内部为光面，一端带外螺纹，与安装座配合使用，另一端带部分外螺纹。

5.根据权利要求1所述的一种位移传感器结构，其特征在于，所述锁紧环为中间带有螺纹内孔的部件，通过螺纹拧紧或侧面加装顶丝方式与测量嘴空心圆柱体的另一端配合使用，用于锁紧位移传感器圆轴。

6.根据权利要求1所述的一种位移传感器结构，其特征在于，所述圆轴通过安装座固定在固定部件上是指在缩紧环锁紧所述传感器的圆轴后才进行固定。

7.根据权利要求6所述的一种位移传感器结构的测试方法，其特征在于，所述位移传感器的头部的形状为齿条式、台阶式或阵列式。

8.一种位移传感器结构的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

锁紧环先不锁死位移传感器，使旋转螺旋测微机构能够控制位移传感器的头部沿圆轴轴向移动；

用定标块作零点基准，使位移传感器的头部恰好未露出固定部件，记录此时螺旋测微机构显示的位置，记为间隙的零点位置L1；

去掉定标块，控制螺旋测微机构使位移传感器的头部移动至运动部件能够将所述头部剐削为止，记录此时螺旋测微机构显示的位置，记为位置L2，则冷态间隙为L2-L1，同时记录头部初始剐削状态：等差式结构头部中等差式结构的初始断裂根数n0；

用锁紧环锁死传感器的圆轴，测试结束后，记录传感器的头部剐削状态，即得到总断裂根数n1，则，剐削量Lg＝(n1-n0)×Δ，热态间隙为L2-L1-Lg，其中，Δ为等差的差值。