[发明专利]一种并行采样系统的失配误差估计方法及系统

权利要求书

1.一种并行采样系统的失配误差估计方法，其特征在于，包括：

获取并行采样系统在输入量为任意相位的单点频校准信号时，输出的采样序列，并行采样系统的输出通道为多个；

模拟生成并行采样系统在输入量为相位为0的单点频校准信号时，输出的标准正弦采样序列和标准余弦采样序列；

将所述标准正弦采样序列、所述标准余弦采样序列以及预设恒量输入到自适应滤波器进行自适应参数估计，当所述并行采样系统的输出与所述自适应滤波器的输出相等时，获取所述并行采样系统的各通道对应的所述标准正弦采样序列的权重系数、所述标准余弦采样序列的权重系数以及所述预设恒量的权重系数；

根据各通道对应的所述标准正弦采样序列的权重系数、所述标准余弦采样序列的权重系数以及所述预设恒量的权重系数计算所述并行采样系统的失配误差，所述失配误差包括通道偏置误差、时间相位误差和增益误差；

所述根据各通道对应的所述标准正弦采样序列的权重系数、所述标准余弦采样序列的权重系数以及所述预设恒量的权重系数计算所述并行采样系统的失配误差，具体包括：

将所述并行采样系统的任一条通道设定为参考通道，将除所述参考通道的通道设定为测试通道；

利用公式计算所述通道偏置误差；其中，所述为通道偏置误差，所述W_{3_i}[n]为所述测试通道对应的所述预设恒量的权重系数，所述W_{3_1}[n]为所述参考通道对应的所述预设恒量的权重系数，所述i表示第i通道，所述M表示所述并行采样系统的通道总数；

所述根据各通道对应的所述标准正弦采样序列的权重系数、所述标准余弦采样序列的权重系数以及所述预设恒量的权重系数计算所述并行采样系统的失配误差，具体包括：

获取所述参考通道输入的所述单点频校准信号的参考相位

根据所述参考相位利用公式计算所述时间相位误差；其中，所述为时间相位误差，所述为测试通道输入的所述单点频校准信号的测试相位，所述W_{2_i}[n]为所述测试通道对应的标准余弦采样序列的权重系数，所述W_{1_i}[n]为所述测试通道对应的标准正弦采样序列的权重系数；

所述根据各通道对应的所述标准正弦采样序列的权重系数、所述标准余弦采样序列的权重系数以及所述预设恒量的权重系数计算所述并行采样系统的失配误差，具体包括：

利用公式计算所述增益误差；其中，所述为所述增益误差，所述X’_iq(n)为消除所述测试通道的所述通道偏置误差和所述时间相位误差后输出的采样序列，所述X_1q(n)为所述参考通道输出的采样序列。

2.一种并行采样系统的失配误差估计系统，其特征在于，包括：

采样序列获取模块，用于获取并行采样系统在输入量为任意相位的单点频校准信号时，输出的采样序列，并行采样系统的输出通道为多个；

标准采样序列获取模块，用于模拟生成并行采样系统在输入量为相位为0的单点频校准信号时，输出的标准正弦采样序列和标准余弦采样序列；

权重系数获取模块，用于将所述标准正弦采样序列、所述标准余弦采样序列以及预设恒量输入到自适应滤波器进行自适应参数估计，当所述并行采样系统的输出与所述自适应滤波器的输出相等时，获取所述并行采样系统的各通道对应的所述标准正弦采样序列的权重系数、所述标准余弦采样序列的权重系数以及所述预设恒量的权重系数；

失配误差计算模块，用于根据各通道对应的所述标准正弦采样序列的权重系数、所述标准余弦采样序列的权重系数以及所述预设恒量的权重系数计算所述并行采样系统的失配误差，所述失配误差包括通道偏置误差、时间相位误差和增益误差；

所述失配误差计算模块，具体包括：

通道定义单元，用于将所述并行采样系统的任一条通道设定为参考通道，将除所述参考通道的通道设定为测试通道；

通道偏置误差计算单元，用于利用公式计算所述通道偏置误差；其中，所述为通道偏置误差，所述W_{3_i}[n]为所述测试通道对应的所述预设恒量的权重系数，所述W_{3_1}[n]为所述参考通道对应的所述预设恒量的权重系数，所述i表示第i通道，所述M表示所述并行采样系统的通道总数；

所述失配误差计算模块，具体包括：

参考相位获取子单元，用于获取所述参考通道输入的所述单点频校准信号的参考相位

时间相位误差计算子单元，用于根据所述参考相位利用公式计算所述时间相位误差；其中，所述为时间相位误差，所述为测试通道输入的所述单点频校准信号的测试相位，所述W_{2_i}[n]为所述测试通道对应的标准余弦采样序列的权重系数，所述W_{1_i}[n]为所述测试通道对应的标准正弦采样序列的权重系数；

所述失配误差计算模块，具体包括：

增益误差计算子单元，用于利用公式计算所述增益误差；其中，所述为所述增益误差，所述X’_iq(n)为消除所述测试通道的所述通道偏置误差和所述时间相位误差后输出的采样序列，所述X_1q(n)为所述参考通道输出的采样序列。