[发明专利]一种基于子孔径划分的ISAR成像包络对齐方法在审
| 申请号: | 201710464508.0 | 申请日: | 2017-06-19 | 
| 公开(公告)号: | CN107356923A | 公开(公告)日: | 2017-11-17 | 
| 发明(设计)人: | 宋大伟;尚社;孙文锋;罗熹;李栋;温媛媛;王建晓;范晓彦 | 申请(专利权)人: | 西安空间无线电技术研究所 | 
| 主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 | 
| 代理公司: | 中国航天科技专利中心11009 | 代理人: | 张丽娜 | 
| 地址: | 710100 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 孔径 划分 isar 成像 包络 对齐 方法 | ||
1.一种基于子孔径划分的ISAR成像包络对齐方法,其特征在于该方法的步骤包括:
(1)将ISAR成像周期所需的全孔径时间分为M个子孔径,每个子孔径长度相同;然后采用最小熵准则获取每个子孔径一阶包络误差导数向量ΔR′m,m=1,2...M;
其中,ΔR′m为第m个子孔径的一阶包络误差导数向量;
则全孔径时间内的一阶包络误差导数向量为ξ:
ξ=[ΔR'1,ΔR'2,...ΔR'm,...ΔR'M-1,ΔR'M]T (1)
(2)用每个子孔径的中心时刻tm构造时间的序列α=[t1,t2,...tm,...tM]T,然后采用高阶多项式近似拟合包络误差,构造每个子孔径的包络误差函数为ΔR(tm):
其中,t1为第一个子孔径的中心时刻,t2为第二个子孔径的中心时刻,tm为第m个子孔径的中心时刻,tM为第M个子孔径的中心时刻,aq为多项式系数,Q为包络误差拟合的阶数,q为子孔径的中心时刻tm的阶数,q=1,2,...Q;
对式(2)求导得到每个子孔径的一阶包络误差导数向量为ΔR'(tm):
(3)将步骤(2)得到的公式(3)进行展开,得到
根据步骤(1)得到的公式(1)可知,令令多项式系数得到
(4)对于ξ=φβ形式的超定矩阵,利用最小二乘法对包络误差函数中多项式系数β进行估计,得到:
(5)将步骤(4)得到的多项式系数β的估计结果带入到步骤(2)得到的公式(2)中,得到每个子孔径的包络误差函数的估计结果再利用公式(2)得到M个子孔径对应的包络误差值ΔR(tm);
(6)根据每个子孔径的包络误差函数值ΔR(tm),将每个子孔径内的每一个回波信号的所有距离单元向距离零点方向平移ΔR(tm)个距离单元,完成包络对齐。
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