[发明专利]一种晶振检测电路及晶振检测方法

说明书

本发明属于半导体集成电路设计领域，提供了一种晶振检测电路及晶振检测方法。本发明提供的晶振检测电路，包括信号发生模块、复位驱动模块、复位模块以及判定模块，由信号发生模块接入被测晶振电路的晶振信号，通过判断复位模块的工作状态判断被测晶振电路是否产生振荡信号，从而及时判断被测晶振电路是否失效，提高了电路的可靠性，保证了电路后续定时功能的正常运行。

技术领域

本发明属于半导体集成电路设计领域，尤其涉及一种晶振检测电路及晶振检测方法。

背景技术

在目前广泛应用的带定时功能的电路中，一般需要兼具定时和不定时功能，在定时功能时，为保证时间的精准，一般会使用外接32768Hz的晶振来提供振荡信号；而在不定时功能下，晶振产生的计时信号不再起作用，在此期间可能会导致晶振停振或损坏，如果不及时更换，就会影响到电路中后续定时功能的使用。这就需要及时检测晶振是否有信号输出。

传统的检测晶振是否有信号输出的方法是用示波器的探头接到晶振的输出端上观察是否有波形产生。由于示波器的探头存在十几到二十几皮法的电容，如果直接接到晶振上，会使晶振分布电容增大，改变晶振的反馈系数，可能会导致晶振停振。这就需要在探头上夹一个剪短引线的1兆欧以上的电阻，用电阻的另一端接触待测点，这种方法较为繁琐，而且在电路中无法及时判断晶振是否停振。

因此，现有的晶振检测过程繁琐，无法及时判断晶振是否失效，因而可能导致电路中后续定时功能不能正常使用。

发明内容

本发明的目的在于提供一种晶振检测电路及晶振检测方法，旨在解决现有的晶振检测过程繁琐，无法及时判断晶振是否失效，因而可能导致电路中后续定时功能不能正常使用的问题。

本发明提供了一种晶振检测电路，晶振检测电路与被测晶振电路连接，所述晶振检测电路包括：

信号发生模块，用于判断所述被测晶振电路输出的晶振信号是否为振荡信号，在所述晶振信号为振荡信号时生成高频复位信号，所述信号发生模块的输入端与所述被测晶振电路的输出端连接；

复位驱动模块，用于根据所述高频复位信号进行复位驱动，生成复位信号，所述复位驱动模块的输入端与所述信号发生模块的输出端连接；

复位模块，用于根据所述复位信号复位生成复位状态信号，所述复位模块的复位端与所述复位驱动模块的输出端连接；

判定模块，用于根据所述复位状态信号判定所述被测晶振电路是否失效，并生成晶振检测提示信号，所述判定模块的输入端与所述复位模块的输出端连接。

本发明还提供了一种基于上述晶振检测电路的晶振检测方法，所述晶振检测方法包括以下步骤：

判断被测晶振电路输出的晶振信号是否为振荡信号；

若是，则进行复位驱动，驱动复位模块复位；

根据所述复位模块的复位状态判定所述被测晶振电路是否失效。

本发明提供的晶振检测电路，包括信号发生模块、复位驱动模块、复位模块以及判定模块，由信号发生模块接入晶振信号，并在晶振信号为振荡信号时生成高频复位信号，使复位驱动模块根据高频复位信号生成复位信号，通过复位模块的工作状态判断被测晶振电路是否失效，从而及时判断被测晶振电路是否停振或者损坏，提高了电路的可靠性，保证了电路后续定时功能的正常运行。

本发明提供的晶振检测方法，简单高效，能够及时判定被测晶振电路的起振情况，有利于提高电路的可靠性，保证了电路后续定时功能的正常运行。

附图说明

图1是本发明实施例提供的晶振检测电路的模块结构图；

图2是本发明实施例提供的晶振检测电路的另一种模块结构图；

图3是本发明实施例提供的晶振检测电路的示例电路图；