[发明专利]一种崔盘、阵列测量系统及方法在审

专利信息
申请号: 201710458282.3 申请日: 2017-06-16
公开(公告)号: CN107014415A 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: 刘涛 申请(专利权)人: 东莞市奥铭测控智能科技有限公司
主分类号: G01D11/00 分类号: G01D11/00
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)44312 代理人: 王利彬
地址: 523000 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 阵列 测量 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于自动化检测领域,尤其涉及一种崔盘、阵列测量系统及方法。

背景技术

在工业生产中,需要对生产出来的产品进行检测。对于同一类产品,传统的检测方法是采用手动或全自动的测量仪器对整盘的该类产品进行检测,检测时,需要将产品单个取出来进行测量,测量完成后再对下一个产品按照同样的步骤进行测量。此测量方法的测量速度非常慢,使得测量效率很低,且测量过程中需要大量的人工操作,由于人为的误差会使得测量结果的准确率降低。

发明内容

本发明提供了一种崔盘、阵列测量系统及方法,旨在解决现有的产品测量效率低下,测量结果准确率低的问题。

为解决上述技术问题,本发明是这样实现的,本发明提供了一种崔盘:

所述崔盘内包括若干个以阵列方式排列的固定区域,每个所述固定区域用于固定待测产品,以使摆放后的每一行的所述待测产品的横轴线与所述崔盘的横边框平行,且每一列的所述待测产品的纵轴线与所述崔盘的纵边框平行。

进一步地,所述固定区域为凹槽结构,其凹槽形状与所述待测产品形状匹配。

进一步地,所述崔盘的盘框为正方形结构或长方形结构。

本发明还提供了一种阵列测量系统,所述系统包括上述的崔盘;所述系统还包括:

工作台,用于摆放所述崔盘;

智能终端,用于根据所述崔盘内放置有待测产品的固定区域的行数、列数以及两个相邻固定区域之间的行间距与列间距,计算生成阵列测量指令,并将所述阵列测量指令发送至测量仪器;

所述测量仪器,用于按照所述阵列测量指令依次对所述崔盘内的每个待测产品进行测量,将得到的每一个所述待测产品的测量数据发送至所述智能终端;

所述智能终端,还用于基于标准产品的定标数据及每个所述待测产品的测量数据,依次确定每个所述待测产品是否合格并显示确定结果。

进一步地,所述工作台包含直角夹具,以使所述崔盘的其中一个直角的两边与直角夹具对齐。

本发明还提供了一种阵列测量方法,所述方法应用于上述的阵列测量系统;所述方法包括:

智能终端根据崔盘内放置有待测产品的固定区域的行数、列数以及两个相邻固定区域之间的行间距与列间距,计算生成阵列测量指令,并将所述阵列测量指令发送至测量仪器;

所述测量仪器按照所述阵列测量指令依次对所述崔盘内的每个待测产品进行测量,将得到的每一个所述待测产品的测量数据发送至所述智能终端;

智能终端基于标准产品的定标数据及每个所述待测产品的测量数据,依次确定每个所述待测产品是否合格并显示确定结果。

进一步地,所述方法还包括:所述测量仪器对放置于所述崔盘内的标准产品进行测量,以得到所述标准产品的定标数据,并将所述标准产品的定标数据发送至所述智能终端。

进一步地,所述测量仪器按照所述阵列测量指令依次对所述崔盘内的每个待测产品进行测量包括:所述测量仪器按照所述阵列测量指令中所包含的移动顺序进行移动,依次对所述崔盘内的每个待测产品进行测量。

进一步地,所述智能终端基于标准产品的定标数据及每个所述待测产品的测量数据,依次确定每个所述待测产品是否合格包括:所述智能终端将每个所述待测产品的测量数据与所述标准产品的定标数据进行差值计算,得到所述待测产品的差值结果;若判断所述待测产品的差值结果大于预设公差,则确定所述待测产品不合格。

本发明与现有技术相比,有益效果在于:

本发明提供了一种崔盘,崔盘内的若干个同规格的待测产品以阵列的方式进行排列摆放。本发明还提供了一种应用该崔盘的阵列测量系统,该系统中的测量仪器按照智能终端的阵列测量指令对崔盘内的待测产品进行自动有序的测量,由于无需对单个待测产品一个个进行离盘检测,而直接对整个崔盘上的所有产品直接进行自动测量,从而大大地减少了装盘、卸盘的时间,提高了产品测量的效率。且由于减少了人为的操作过程,降低了人为操作而导致的误差,使得测量结果准确率大大提高。

附图说明

图1是本发明实施例提供的崔盘示意图;

图2是本发明实施例提供的阵列测量系统示意图;

图3是本发明实施例提供的工作台示意图;

图4是本发明实施例提供的崔盘示意图;

图5是本发明实施例提供的智能终端上的主页面示意图;

图6是本发明实施例提供的智能终端上的测量结果示意图;

图7是本发明实施例提供的阵列测量方法流程图。

具体实施方式

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