[发明专利]一种蝶形触发器物理不可克隆函数的可靠性提升方法有效

专利信息
申请号: 201710457948.3 申请日: 2017-06-16
公开(公告)号: CN107194117B 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 梁华国;徐秀敏;王浩宇;蒋翠云;黄正峰;易茂祥 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G06F30/343 分类号: G06F30/343;G06F21/76;H04L9/32;G06F119/02
代理公司: 合肥金安专利事务所(普通合伙企业) 34114 代理人: 彭超
地址: 230009 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 蝶形 触发器 物理 不可 克隆 函数 可靠性 提升 方法
【权利要求书】:

1.一种蝶形触发器物理不可克隆函数的可靠性提升方法,其特征在于,包括如下步骤:

初始化步骤:

利用预设的约束文件定义物理不可克隆函数生成单元在FPGA上的位置,设置物理不可克隆函数的位数,在FPGA上实现所述物理不可克隆函数生成单元,产生初始响应序列;所述物理不可克隆函数生成单元中设有蝶形触发器;所述蝶形触发器中的两条路径在底层的设计是结构相同的,且对称布局等长布线,以使两条路径所对应器件之间的延迟是相同的;

变量定义步骤:

定义变量n,初始化n=0;

添加负载步骤:

在所述蝶形触发器的一侧添加n个扇出负载,产生1次响应序列,将序列响应发生改变的物理不可克隆函数剔除;在所述蝶形触发器的另一侧添加n个扇出负载,产生1次响应序列,将序列响应发生改变的物理不可克隆函数剔除。

2.根据权利要求1所述的一种蝶形触发器物理不可克隆函数的可靠性提升方法,其特征在于,还包括温度电压测试步骤:

提取部分物理不可克隆函数,利用温度电压测试再次检测剔除后所述蝶形触发器物理不可克隆函数的可靠性,得到第n+1次检测的可靠性指数A。

3.根据权利要求1所述的一种蝶形触发器物理不可克隆函数的可靠性提升方法,其特征在于,还包括检测步骤:

判断第n次检测的可靠性指数是否达到所述蝶形触发器物理不可克隆函数的性能要求,若达到,表示所述蝶形触发器物理不可克隆函数的可靠性得到提升完毕;若未达到,则将n=n+1,返回执行所述添加负载步骤。

4.根据权利要求1或2或3所述的一种蝶形触发器物理不可克隆函数的可靠性提升方法,其特征在于,所述物理不可克隆函数生成单元包括一个蝶形触发器、四个D触发器,两个缓冲器;其中,所述蝶形触发器由交叉耦合的两个与非门组成;输入信号TEST分别通过两路D触发器,分别经过两路缓冲器连接蝶形触发器的输入端,所述蝶形触发器的输出端分别连接另外两路D触发器的输入端。

5.根据权利要求4所述的一种蝶形触发器物理不可克隆函数的可靠性提升方法,其特征在于,在所述添加负载步骤中:

在所述蝶形触发器的一侧添加n个扇出负载是指在所述蝶形触发器输入端连接的一路缓冲器的输入端或输出端添加n个扇出负载;

在所述蝶形触发器的另一侧添加n个扇出负载是指在所述蝶形触发器输入端连接的另一路缓冲器的输入端或输出端添加n个扇出负载。

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