[发明专利]一种考虑质量偏差与失效相关性的早期失效风险分析方法

权利要求书

1.一种考虑质量偏差与失效相关性的早期失效风险分析方法，提出的基本假设如下：

假设1产品各组件制造过程相互独立，且组件的各关键质量特性之间相互独立；

假设2所分析产品未进行筛选试验，仅以历史试验数据作为失效分析数据来源；

假设3组件在早期使用阶段只存在正常工作和失效两种状态，一旦失效立即换新或维修；

假设4对于可维修性组件，只考虑首次失效；

假设5产品早期使用阶段不存在定期维修；

基于上述假设，本发明提出的一种考虑质量偏差与失效相关性的早期失效风险分析方法，其特征在于：其步骤如下：

步骤一、建立相关产品的基础数据库；

步骤二、建立早期失效动态故障树，明确产品早期失效相关的各组件动态相关关系；

步骤三、分析各组件固有早期失效风险可能性；

步骤四、分析各组件固有早期失效风险严重性；

步骤五、分析各组件相关早期失效风险可能性；

步骤六、分析各组件相关早期失效风险严重性；

步骤七、分析产品早期失效风险；

步骤八、识别早期失效风险较高组件；

步骤九、结果分析：是将本方法所得结果与实际失效情况以及传统风险分析方法的结果作对比；

通过以上步骤，建立了一种考虑质量偏差与失效相关性的早期失效风险分析方法，达到了从风险角度出发综合考虑制造质量偏差与早期失效相关性分析早期失效的目的，为企业进一步面向制造过程主动预防早期失效，开展高效的质量管理决策提供依据，有利于持续提高企业生产效益和产品质量。

2.根据权利要求1所述的一种考虑质量偏差与失效相关性的早期失效风险分析方法，其特征在于：

在步骤一中所述的“建立相关产品的基础数据库”，是指分析产品早期失效关键组件，关键质量特性，确定相应制造过程及早期使用过程，基于工业生产大数据，收集与之相关的数据，建立基础数据库；

其具体作法如下：

首先，利用公理设计域间映射理论确定产品关键组件，各组件关键质量特性及制造过程；其次，通过传感器搜集的历史数据或者网络云端中收集相关组件及质量特性的基础数据，包括产品设计数据、制造过程质量特性波动数据、产品质量检测数据、早期质保数据；最后，分类整理上述数据，建立相关产品基础数据库。

3.根据权利要求1所述的一种考虑质量偏差与失效相关性的早期失效风险分析方法，其特征在于：

在步骤二中所述的“建立早期失效动态故障树”，是指利用动态故障树识别分析相关组件并表示组件的相关关系；

其具体作法如下：

首先，通过分析基础数据库中的早期质保数据，确定动态故障树顶事件及各相关组件；其次，通过分析基础数据库中的产品设计数据，确定各组件的失效相关性；最后，基于顶事件、相关组件及组件间的相关关系，建立早期失效动态故障树。