[发明专利]用于在内部检查管状复合零件的系统和方法

权利要求书

1.一种用于在内部检查管状复合零件(10)以识别和测量所述管状复合零件(10)内的粘合剂流的系统(50)，该系统(50)包括：

端点适配器(30)，该端点适配器(30)被配置为装配在所述管状复合零件(10)内并且在所述管状复合零件(10)内维持一致的横截面位置；

从所述端点适配器(30)向外径向地延伸的多个光纤(40)，其中，所述端点适配器(30)被配置为纵向地移动通过所述管状复合零件(10)以便在光在所述管状复合零件(10)内的多个可确定的纵向位置(y)中的每一个处与所述管状复合零件(10)的相互作用之后用所述多个光纤(40)接收所述光；

近红外NIR成像光谱仪(54)，该NIR成像光谱仪(54)被配置为使正由所述多个光纤(40)中的每一个光纤收集的所述光在NIR光谱(λ)上分散；以及

NIR相机(58)，该NIR相机(58)被配置为基于正由所述多个光纤(40)中的每一个光纤收集的、在所述NIR光谱(λ)上分散之后的光生成所述管状复合零件(10)的图像。

2.根据权利要求1所述的系统(50)，其中，所述端点适配器(30)被配置为被定位在所述管状复合零件(10)内，使得各个光纤与所述管状复合零件(10)的表面(11)的与该各个光纤接近的那一部分垂直。

3.根据权利要求1所述的系统(50)，其中，所述多个光纤(40)从所述端点适配器(30)向外延伸，使得从所述端点适配器(30)的一个部分向外径向地延伸的所述光纤(40)与从所述端点适配器(30)的另一部分向外径向地延伸的所述光纤(40)相比具有较大的密度。

4.根据权利要求1所述的系统(50)，其中，所述NIR成像光谱仪(54)包括输入狭缝(54a)，并且其中，所述系统(50)还包括传感器适配器(56)，该传感器适配器(56)被配置为端接所述多个光纤(40)，使得所述光纤(40)的端部被布置在所述NIR成像光谱仪(54)的所述输入狭缝(54a)处。

5.根据权利要求1所述的系统(50)，该系统(50)还包括被配置为随着所述端点适配器(30)移动通过所述管状复合零件(10)的多个输入光纤(55)，其中，所述多个输入光纤(55)还被配置为提供光以便照射所述管状复合零件(10)的内部表面(11)。

6.根据权利要求1所述的系统(50)，其中，所述端点适配器(30)包括一个或更多个框架(34)，其中各个框架(34)包括用于随着所述端点适配器(30)纵向地前进通过所述管状复合零件(10)而沿着所述管状复合零件(10)的内部表面(11)行进的三个或更多个接触构件(38)。

7.根据权利要求1所述的系统(50)，其中，所述多个光纤(40)被选择性地定位以便在不同的方向上具有不同的密度。

8.一种用于在内部检查管状复合零件(10)以识别和测量所述管状复合零件(10)内的粘合剂流的方法，该方法包括以下步骤：

将端点适配器(30)插入到所述管状复合零件(10)中；

在所述端点适配器(30)在所述管状复合零件(10)内维持一致的横截面位置的同时纵向地移动所述端点适配器(30)通过所述管状复合零件(10)；

照射所述管状复合零件(10)的内部表面(11)并且在光随着所述端点适配器(30)移动通过所述管状复合零件(10)而在所述管状复合零件(10)内的多个可确定的纵向位置(y)中的每一个处与所述管状复合零件(10)的相互作用之后用由所述端点适配器(30)承载的多个光纤(40)接收所述光；

使正由所述多个光纤(40)中的每一个光纤收集的所述光在近红外NIR光谱(λ)上分散；以及

基于正由所述多个光纤(40)中的每一个光纤收集的、在所述NIR光谱(λ)上分散之后的光生成所述管状复合零件(10)的图像。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，照射所述管状复合零件(10)的所述内部表面(11)包括经由随着所述端点适配器(30)移动通过所述管状复合零件(10)的多个输入光纤(55)提供光。

10.根据权利要求8所述的方法，其中，照射所述管状复合零件(10)的所述内部表面(11)包括用由所述端点适配器(30)承载的发光二极管LED(53)或白炽光源(53)提供光。