[发明专利]纳米级非接触光纤传感器测量用调整装置及方法

权利要求书

1.纳米级非接触光纤传感器测量用调整装置，其特征在于，包括调整螺母(2)，调整螺母(2)下部穿插设有光纤传感器(3)，上部穿插设有固定杆(4)，且光纤传感器(3)通过固定杆(4)下方的孔安装在固定杆(4)中，固定杆(4)的上部套设有固定螺杆(6)，且固定螺杆(6)的下部外侧与调整螺母(2)的上部内侧通过螺纹连接；固定螺杆(6)的上部连接有微调筒(7)，微调筒(7)的上部连接有调整套(8)，调整套(8)上连接有调整盖(9)；微调筒(7)的总长度比下试件(12)的高度小1mm；光纤传感器(3)和调整螺母(2)的下部设置在支撑块(1)中。

2.根据权利要求1所述的纳米级非接触光纤传感器测量用调整装置，其特征在于，固定螺杆(6)的底部与固定杆(4)之间设有弹簧(5)。

3.根据权利要求1所述的纳米级非接触光纤传感器测量用调整装置，其特征在于，光纤传感器(3)通过紧定螺钉(10)与固定杆(4)固定。

4.一种权利要求1所述的纳米级非接触光纤传感器测量用调整装置的调整方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：调整固定螺杆(6)推动微调筒(7)、调整套(8)以及调整盖(9)，使光纤传感器(3)的顶部与调整盖(9)之间的距离达到量程范围；

步骤二：将微调筒(7)、调整套(8)、调整盖(9)以及支撑块(1)去掉，将固定螺杆(6)固定在下试件(12)的下表面测量位置，待上试件(11)安装稳定后，调整固定螺杆(6)使调整螺母(2)带动固定杆(4)向上移动，进而带动光纤传感器(3)向上移动，使得光纤传感器(3)达到测量范围的高分辨率区域。