[发明专利]一种检测弧面反光镜片表面缺陷的方法和装置

权利要求书

1.一种检测弧面反光镜片表面缺陷的装置，其特征在于，包括：对称分布的两排光源、对称设置在所述光源前面的黑白条纹相间的两块光源膜、设置在所述光源后面的线扫相机，可移动的主体；

两排所述光源之间设置有第一间隔；

两排所述光源膜之间设置有第二间隔，且所述第二间隔的宽度与所述光源膜上的黑条纹及白条纹的宽度相等；

所述第二间隔和所述第一间隔之间的连线与所述光源膜所在的平面垂直；

两块所述光源膜的组合长度和宽度分别大于待测弧面反光镜片的长度和宽度；

所述线扫相机的镜头设置在所述第一间隔和所述第二间隔之间连线的延长线上，用于获取经所述待测弧面反光镜片反射且依次穿过所述第二间隔和所述第一间隔的反射光；

两排所述光源、两排所述光源膜、所述线扫相机均固定设置在可移动的所述主体上；

所述主体用于移动两排所述光源、两排所述光源膜、所述线扫相机，使得所述线扫相机依次扫过整个所述待测弧面反光镜片表面并获取经所述待测弧面反光镜片反射的反射光形成的明暗相间的完整反射光图像；

通过分析所述反射光图像上明暗相间的光带分析所述待测弧面反光镜片的表面缺陷。

2.根据权利要求1所述的检测弧面反光镜片表面缺陷的装置，其特征在于，所述光源为LED光源。

3.一种检测弧面反光镜片表面缺陷的方法，其特征在于，包括：

通过对称分布的两排光源和对称设置在两排所述光源前面的黑白条纹相间的两块光源膜产生入射光并照射在待测弧面反光镜片表面，其中两块所述光源膜的组合长度和宽度分别大于所述待测弧面反光镜片的长度和宽度；

通过设置在所述光源后面的线扫相机获取经所述待测弧面反光镜片反射且依次穿过第二间隔和第一间隔的反射光图像，所述第一间隔为两排所述光源之间的间隙，所述第二间隔为两排所述光源膜之间的间隙，所述线扫相机的镜头设置在所述第一间隔和所述第二间隔之间连线的延长线上，所述第二间隔和所述第一间隔之间的连线与所述光源膜所在的平面垂直，所述第二间隔的宽度与所述光源膜上的黑条纹及白条纹的宽度相等；

通过设置在所述光源后面的线扫相机获取经所述待测弧面反光镜片反射且依次穿过第二间隔和第一间隔的反射光图像具体包括：

统一移动两排所述光源、两排所述光源膜、所述线扫相机，同时通过所述线扫相机获取每个位置的经所述待测弧面反光镜片反射且依次穿过第二间隔和第一间隔的反射光来获取明暗相间的完整反射光图像；

通过分析所述反射光图像上明暗相间的光带分析所述待测弧面反光镜片的表面缺陷。