[发明专利]含水量分析方法、装置以及水分测量仪及测量方法在审
| 申请号： | 201710415545.2 | 申请日： | 2017-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN107238611A | 公开（公告）日： | 2017-10-10 |
| 发明（设计）人： | 潘磊;许瑾 | 申请（专利权）人： | 默斯测控技术（长沙）有限公司 |
| 主分类号： | G01N22/04 | 分类号： | G01N22/04 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 林青中 |
| 地址： | 410000 湖南省长沙市高新开发*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 含水量 分析 方法 装置 以及 水分 测量仪 测量方法 | ||
1.一种含水量分析方法，其特征在于，包括步骤：
获取微波信号穿过待测物料形成的回波信号相对于所述微波信号产生的相位差及振幅衰减；
获取所述相位差与所述振幅衰减的比值；
根据所述比值获得所述待测物料的含水量。
2.根据权利要求1所述的含水量分析方法，其特征在于，所述根据所述比值获得所述待测物料的含水量的步骤为：
将所述比值代入预设函数关系式中，以得到所述含水量。
3.一种含水量分析装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取微波信号穿过待测物料形成的回波信号相对于所述微波信号产生的相位差及振幅衰减；
比对模块，用于获取所述相位差与所述振幅衰减的比值；
分析模块，用于根据所述比值获得所述待测物料的含水量。
4.根据权利要求3所述的含水量分析装置，其特征在于，所述分析模块用于将所述比值代入预设函数关系式中，以得到所述含水量。
5.一种水分测量仪，其特征在于，包括：
发射天线，用于向待测物料发射微波信号；
接收天线，用于接收所述微波信号穿过所述待测物料形成的回波信号；及处理器，用于获取所述回波信号相对于所述微波信号产生的相位差及振幅衰减；获取所述相位差与所述振幅衰减的比值；根据所述比值获得所述待测物料的含水量。
6.根据权利要求5所述的水分测量仪，其特征在于，所述处理器用于将所述比值代入预设函数关系式中，以得到所述含水量。
7.根据权利要求5所述的水分测量仪，其特征在于，还包括显示器，所述显示器用于显示所述含水量。
8.一种水分测量方法，其特征在于，包括步骤：
发射天线向待测物料发射微波信号；
接收天线接收所述微波信号穿过所述待测物料形成的回波信号；
处理器获取所述回波信号相对于所述微波信号产生的相位差及振幅衰减；
处理器获取所述相位差与所述振幅衰减的比值；
处理器根据所述比值获得所述待测物料的含水量。
9.根据权利要求8所述的水分测量方法，其特征在于，所述根据所述比值获得所述待测物料的含水量的步骤为：
处理器将所述比值代入预设函数关系式中，以得到所述含水量。
10.根据权利要求8所述的水分测量方法，其特征在于，还包括显示器对所述含水量进行显示的步骤。
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