[发明专利]一种掺钇氟化钡晶体及其制备方法和应用有效
申请号: | 201710414310.1 | 申请日: | 2017-06-05 |
公开(公告)号: | CN107354509B | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
发明(设计)人: | 陈俊锋;杜勇;王绍华;孙世允;周学农;李翔 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所;上海硅酸盐研究所中试基地 |
主分类号: | C30B29/12 | 分类号: | C30B29/12;C30B11/02;C30B15/00;C30B28/06;C30B28/10;G01T1/202 |
代理公司: | 31261 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 曹芳玲;郑优丽 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氟化钡 晶体 及其 制备 方法 应用 | ||
1.一种掺钇氟化钡晶体的制备方法,其特征在于,所述掺钇氟化钡晶体的化学组成为Ba(1-x)YxF2+x,其中0.01≤x≤0.50,所述制备方法包括:
以YF3 和BaF2为原料,按照按摩尔比BaF2: YF3 = (1-x): x准确称量后混合,得到混合粉体,0.01≤x≤0.50;
将所得混合粉体装入坩埚,然后在真空炉中于1200-1400℃充分熔融混合,再经冷却后,得到Ba(1-x)YxF2+x多晶料,或者将所得混合粉体经等静压处理后装入坩埚,然后于真空气氛中在900~1200℃下烧结,得到Ba(1-x)YxF2+x多晶料;
将所得Ba(1-x)YxF2+x多晶料和脱氧剂PbF2粉体混合,通过坩埚下降法生长晶体;所述坩埚下降法的工艺参数包括:
保持本底真空度小于10-3Pa,然后在1200-1400℃下熔融Ba(1-x)YxF2+x多晶料和脱氧剂PbF2粉体后开始晶体生长,坩埚的下降速度为0.5~4 mm/小时,生长结束后将晶体以10~50℃/小时的降温速率冷却至室温;其中脱氧剂PbF2的加入量为Ba(1-x)YxF2+x多晶料的0.5-5wt%。
2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述坩埚为高纯石墨坩埚或玻璃碳坩埚。
3.根据权利要求1或2所述的制备方法,其特征在于,脱氧剂PbF2的加入量为Ba(1-x)YxF2+x多晶料的0.5-2wt%。
4.根据权利要求1或2所述的制备方法,其特征在于,所述等静压处理的压力为5-20MPa,时间为0.1-1小时。
5.一种权利要求1至4中任一项所述的制备方法制备的掺钇氟化钡晶体。
6.根据权利要求5所述的掺钇氟化钡晶体,其特征在于,所述掺钇氟化钡晶体为单晶或多晶。
7.一种闪烁晶体探头,其特征在于,包括权利要求5或6所述的掺钇氟化钡晶体、以及与所述掺钇氟化钡晶体耦合的光电倍增管、雪崩光电二极管或硅光电倍增管。
8.一种如权利要求5或6所述的掺钇氟化钡晶体在高时间分辨辐射探测领域中的应用。
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